Модель взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями, основанная на фрактальной геометрии, для микроэлектроники и радиофотоники

Богуш В. А., Бойправ О. В., Гринчик Н. Н.
2025

Представлены результаты обоснования и апробации модели взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями. Данная модель отличается от аналогов следующим: 1) профили шероховатости поверхности описываются с помощью фрактальной геометрии; 2) учитывается, что распределение электрического поля по поверхностям характеризуется наличием сильных разрывов. Второе из указанных отличий привело к применению в рамках разработанной модели уравнений Максвелла, сведенных к волновым уравнениям. Полученная модель рекомендуется к использованию при проектировании тонкопленочных электромагнитных экранов для защиты изделий микроэлектроники от воздействия внешних и внутренних помех, при проектировании таких изделий и изделий радиофотоники, а также при теоретической оценке оптических и температурных свойств материалов.

Богуш В. А., Бойправ О. В., Гринчик Н. Н. Модель взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями, основанная на фрактальной геометрии, для микроэлектроники и радиофотоники. Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук. 2025;61(2):149-158. https://doi.org/10.29235/1561-2430-2025-61-2-149-158
Цитирование

Список литературы

Похожие публикации

Источник