TY  - JOUR
T1  - Модель взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями, основанная на фрактальной геометрии, для микроэлектроники и радиофотоники
JF  - Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук
DO  - 10.29235/1561-2430-2025-61-2-149-158
AU  - Богуш В. А., 
AU  - Бойправ О. В., 
AU  - Гринчик Н. Н., 
Y1  - 2025-07-11
UR  - https://www.academjournals.by/publication/19480
N2  - Представлены результаты обоснования и апробации модели взаимодействия электромагнитного излучения с шероховатыми поверхностями. Данная модель отличается от аналогов следующим: 1) профили шероховатости поверхности описываются с помощью фрактальной геометрии; 2) учитывается, что распределение электрического поля по поверхностям характеризуется наличием сильных разрывов. Второе из указанных отличий привело к применению в рамках разработанной модели уравнений Максвелла, сведенных к волновым уравнениям. Полученная модель рекомендуется к использованию при проектировании тонкопленочных электромагнитных экранов для защиты изделий микроэлектроники от воздействия внешних и внутренних помех, при проектировании таких изделий и изделий радиофотоники, а также при теоретической оценке оптических и температурных свойств материалов.