Определение шероховатости поверхности материалов высокоскоростных железнодорожных колес на основе лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Ouyang A.; Yu B.; Hu J.; Lin T.; Liu Y.

Определение шероховатости поверхности материалов высокоскоростных железнодорожных колес на основе лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

Ouyang A. , Yu B. , Hu J. , Lin T. , Liu Y.

2023

С помощью лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии (LIBS) получена спектральная информация для семи образцов колес высокоскоростных поездов ER8 с различной шероховатостью поверхности. Исследованы корреляции между интенсивностью спектральных линий, их отношением и шероховатостью поверхности образцов. Показано, что интенсивности спектральных линий основного элемента Fe и легирующих элементов Cr, Mo и V, отношения интенсивностей ионных линий к атомным линиям и отношения интенсивностей спектральных линий легирующих элементов к основным элементам коррелируют с шероховатостью поверхности образцов в разной степени. Модели случайного леса (RF) с интенсивностями спектральных линий и отношениями интенсивностей спектральных линий в качестве переменных использованы для корреляций. Проанализирована шероховатость поверхности материалов высокоскоростных железнодорожных колес с использованием LIBS и алгоритма RF. Метод можно использовать для измерения и оценки шероховатости поверхности колес в полевых условиях, обеспечив основу для применения LIBS при исследовании колес высокоскоростных железных дорог с различной шероховатостью поверхности.

Ouyang A. , Yu B. , Hu J. , Lin T. , Liu Y. Определение шероховатости поверхности материалов высокоскоростных железнодорожных колес на основе лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии. Журнал прикладной спектроскопии. 2023;90(3):521-1-521-9.

Цитирование

Список литературы

1. W. H. Zhang, J. Rail and Rapid Transit, 228, No. 4, 367-377 (2014).

2. D. Wang, L. Wang, T. Chen, L. Lu, Y. Niu, A. L. Alan, J. Geog. Sci., 26, No. 12, 1725-1753 (2016).

3. G. Zhang, R. Ren, Eng. Fail. Anal., 105, 1287-1295 (2019).

4. J. Zhang, EURASIP J. Wirel. Commun. Net., 2019, No. 1, 1-8 (2019).

5. Z. Wang, J. Xu, Y. Wang, L. W. Wang, R. Z. Wang, Appl. Therm. Eng., 188, 116591 (2021).

6. Q. Zhang, Z. Zhu, J. Gao, G. Dai, L. Xu, J. Feng, ActaMetall. Sin., 53, No. 3, 307-315 (2016).

7. C. Lu, C. Cai, Transp. Geotech., 25, 100397 (2020).

8. L. M. Sweet, A. Karmel, R. Budell, D. Lassman, D. Schulte, Veh. Syst. Dyn., 12, No. 1-3, 177-178 (1983).

9. W. H. Ho, J. T. Tsai, B. T. Lin, J. Chou, Expert Syst. Appl., 36, No. 2, 3216-3222 (2009).

10. W. Grzesik, J. Mater. Eng. Perform., 25, No. 10, 4460-4468 (2016).

11. L. Radziemski, D. Cremers, Spectrochim. Acta B: At. Spectrosc., 87, 3-10 (2013).

12. V. K. Singh, V. Kumar, J. Sharma, Lasers Med. Sci., 30, No. 6, 1763-1778 (2015).

13. S. J. Rehse, H. Salimnia, A. W. Miziolek, J. Med. Eng. Technol, 36, No. 2, 77-89 (2012).

14. J. El Haddad, E. S. de Lima Filho, F. Vanier, A. Harhira, C. Padioleau, M. Sabsabi, A. Blouin, Miner. Eng., 134, 281-290 (2019).

15. Y. Bi, Y. Zhang, J. Yan, Z. Wu, Y. Li, Plasma Sci. Technol., 17, No. 11, 923 (2015).

16. Y. Zhang, T. Zhang, H. Li, Spectrochim. Acta B: At. Spectrosc., 181, 106218 (2021).

17. D. A. Goncalves, G. S. Senesi, G. Nicolodelli, Trends Environ. Anal. Chem., 30, e00121 (2021).

18. D. Stefas, N. Gyftokostas, E. Nanou, P. Kourelias, S. Couris, Molecules, 26, No. 16, 4981 (2021).

19. A. Velasquez-Ferrin, D. V. Babos, C. Marina-Montes, J. Anzano, Appl. Spectrosc. Rev., 56, No. 6, 492-512 (2021).

20. J. Huang, M. Dong, S. Lu, Y. Yu, C. Liu, J. H. Yoo, J. Lu, Analyst, 144, No. 12, 3736-3745 (2019).

21. L. M. Cabalin, D. Romero, J. M. Baena, J. J. Laserna, Surf. Interface Anal., 27, No. 9, 805-810 (1999).

22. I. Rauschenbach, V. Lazic, S. G. Pavlov, H. W. Hubers, E. K. Jessberger, Spectrochim. Acta B: At. Spectrosc., 63, No. 10, 1205-1221 (2008).

23. W. Rapin, B. Bousquet, J. Lasue, P. Y. Meslin, J. L. Lacour, C. Fabre, A. Cousin, Spectrochim. Acta B: At. Spectrosc, 137, 13-22 (2017).

24. W. Wang, L. Sun, G. Wang, P. Zhang, L. Qi, L. Zheng, W. Dong, J. Anal. At. Spectrom., 35, No. 2, 357-365 (2020).

25. P. Chen, X. L. Wang, X. Hong, H. Wang, C. L. Zhao, Z. D. Jia, L. Zou, Y. M. Li, J. H. Fan, Spectrosc. Spectr. Anal., 39, No. 6, 1929 (2019).

26. F. Lisowski, E. Lisowski, Appl. Sci., 10, No. 14, 4717 (2020).

27. L. Yande, G. Xue, C. Mengjie, H. Zhaoguo, L. Xiaodong, Jia, Laser Optoelectron. Prog., 57, No. 9, 093006 (2020).

28. C. Yi, Y. Lv, H. Xiao, K. Ke, X. Yu, Spectrochim. Acta B: At. Spectrosc., 138, 72-80 (2017).

29. Y. W. Chu, S. S. Tang, S. X. Ma, Y. Y. Ma, Z. Q. Hao, Y. M. Guo, X. Y. Zeng, Opt. Express, 26, No. 8, 10119-10127 (2018).

30. D. Syvilay, N. Wilkie-Chancellier, B. Trichereau, A. Texier, L. Martinez, S. Serfaty, V. Detalle, Spec- trochim. ActaB: At. Spectrosc., 114, 38-45 (2015).

31. A. Ziegler, I. R. Konig, Wiley Interdiscip. Rev. Data Min. Knowl. Discov., 4, No. 1, 55-63 (2014).

32. P. Porizka, J. Klus, A. Hrdlicka, J. Vrabel, P. Skarkova, D. Prochazka, J. Kaiser, J. Anal. At. Spectrometry, 32, No. 2, 277-288 (2017).

33. J. P. Castro, E. R. Pereira-Filho, J. Anal. At. Spectrometry, 31, No. 10, 2005-2014 (2016).

Источник

Информация

Автор

Ouyang A. Школа механики и электротехники Восточно-Китайского университета Цзяотун
Yu B. Школа механики и электротехники Восточно-Китайского университета Цзяотун
Hu J. Школа механики и электротехники Восточно-Китайского университета Цзяотун
Lin T. Школа механики и электротехники Восточно-Китайского университета Цзяотун
Liu Y. Школа механики и электротехники Восточно-Китайского университета Цзяотун

Страницы

521-1-521-9

Год издания

2023

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии