Повышение точности определения места происхождения риса методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с помощью метода опорных векторов

Yang P.; Liu H. T.; Nie Z. L.; Qu X. N.

Повышение точности определения места происхождения риса методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с помощью метода опорных векторов

Yang P. , Liu H. T., Nie Z. L., Qu X. N.

2022

С использованием лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии разработан метод быстрого обнаружения различий между образцами риса из десяти различных географических местностей Китая. Для расчета скорости распознавания одиночных спектральных линий и мультиспектральных линий для образцов риса различного происхождения использован метод опорных векторов. Обнаружено, что регулировка спектральных весов многоспектрального линейного состава минеральных металлических элементов выше, что увеличивает скорость идентификации происхождения риса. Точность распознавания одиночных спектральных линий и мультиспектральных линий 90.8 и 94.6 %.

Yang P. , Liu H. T., Nie Z. L., Qu X. N. Повышение точности определения места происхождения риса методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с помощью метода опорных векторов. Журнал прикладной спектроскопии. 2022;89(3):434.

Цитирование

Список литературы

1. S. Kelly, M. Baxter, S. Chapman, C. Rhodes, J. Dennis, P. Brereton, Eur. Food Res. Technol., 214, No. 1, 72 (2002).

2. N. N. Wang, X. W. Feng, Y. P. Sun, P. S. Cong, Z. L. Zhu, J. Instrum. Anal., 32, No. 10, 1227 (2013).

3. C. Maione, B. L. Batista, A. D. Campiglia, F. Barbosa, R. M. Barbosa, Comput. Electron Agric., 121, 101 (2016).

4. J. M. Li, Z. H. Zhu, R. Zhou, N. Zhao, R. X. Yi, X. Y. Yang, X. Y. Li, L. B. Guo, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, Anal. Chem., 89, No. 15, 8134 (2017).

5. C. M. Li, Z. M. Zou, X. Y. Yang, Z. Q. Hao, L. B. Guo, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, J. Anal. At. Spectrom., 29, No. 8, 1432 (2014).

6. J. Wang, L. Li, P. Yang, Y. Chen, Y. N. Zhu, M. Tong, Z. Q. Hao, X. Y. Li, Lasers Med. Sci., 33, No. 6, 1381 (2018).

7. M. A. Gondal, M. A. Shemis, A. A. Khalil, M. M. Nasr, B. Gondal, J. Anal. At. Spectrom., 31, No. 2, 506 (2016).

8. P. Yang, R. Zhou, W. Zhang, R. X. Yi, S. S. Tang, L. B. Guo, Z. Q. Hao, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, Food Chem., 272, 323 (2019).

9. P. Yang, Y. N. Zhu, S. S. Tang, Z. Q. Hao, L. B. Guo, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, Appl. Opt., 57, No. 14, 3730 (2018).

10. T. B. Chen, L. Y. Zhang, H. Lin, M. H. Liu, J. Y. Chen, M. Y. Yao, J. Anal. At. Spectrom. (2019).

11. R. X. Yi, X. Y. Yang, R. Zhou, J. M. Li, H. W. Yu, Z. Q. Hao, L. B. Guo, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, Anal. Chem., 90, No. 11, 7080 (2018).

12. R. X. Yi, J. M. Li, X. Y. Yang, R. Zhou, H. W. Yu, Z. Q. Hao, L. B. Guo, X. Y. Li, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, Anal. Chem., 89, No. 4, 2334 (2017).

13. W. Zhang, R. Zhou, P. Yang, K. Liu, J. J. Yan, P. Y. Gao, Z. Y. Tang, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, Talanta, 198, 93 (2019).

14. Z. Y. Tang, R. Zhou, Z. Q. Hao, S. X. Ma, W. Zhang, K. Liu, X. Y. Li, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, J. Anal. At. Spectrom. (2019).

15. X. Y. Yang, R. X. Yi, X. Y. Li, Z. F. Cui, Y. F. Lu, Z. Q. Hao, J. C. Huang, Z. X. Zhou, G. X. Yao, W. X. Huang, Opt. Express, 26, No. 23, 30456 (2018).

16. Y. Yu, L. B. Guo, Z. Q. Hao, X. Y. Li, M. Shen, Q. D. Zeng, K. H. Li, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, Z. Ren, Opt. Express, 22, No. 4, 3895 (2014).

17. G. Bilge, H. M. Velioglu, B. Sezer, K. E. Eseller, I. H. Boyaci, Meat Sci., 119, 118 (2016).

18. S. Moncayo, J. D. Rosales, R. Izquierdo-Hornillos, J. Anzano, J. O. Caceres, Talanta, 158, 185 (2016).

19. J. J. Yan, P. Yang, Z. Q. Hao, R. Zhou, X. Y. Li, S. S. Tang, Y. Tang, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, Opt. Express, 26, No. 22, 28996 (2018).

20. G. Bekefi, Principles of Laser Plasmas, New York, Wiley-Interscience (1976).

21. R. W. B. Pearse, A. G. Gaydon. The Identification of Molecular Spectra, London, Chapman and Hall (1976).

22. Y. Yu, Z. Q. Hao, C. M. Li, L. B. Guo, K. H. Li, Q. D. Zeng, X. Y. Li, Z. Ren, X. Y. Zeng, AcPSn, 62, No. 21 (2013).

23. C. F. Zeng, L. F. Zhang, J. D. Xu, J. Shu, D. H. Liu, Sci. Technol. Food Ind., 36, No. 4, 367 (2013).

Источник

Информация

Автор

Yang P. Колледж информационных технологий Института электроники Чанчжоу
Liu H. T. Колледж информационных технологий Института электроники Чанчжоу
Nie Z. L. Колледж информационных технологий Института электроники Чанчжоу
Qu X. N. Колледж информационных технологий Института электроники Чанчжоу

Страницы

Год издания

2022

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии