Разработка высокоскоростной системы визуализации методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с частотой дискретизации пикселей, превышающей 2000 Гц

Zhang S. , Xu B. , Chen F. , Chen Y. , Wu H. , Wang G.
2026

Для обеспечения более быстрой и экономичной альтернативы элементной визуализации разработана система высокоскоростной визуализации методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии, в которой интегрированы волоконный лазер с высокой частотой повторения импульсов, гальванометрический сканер, F-Theta линза и высокоскоростной спектрометр. Путем оптимизации параметров прибора и лазера/спектрометра спектральный сигнал значительно улучшен по сравнению с полученным с помощью исходной системы. Пределы обнаружения для Cu, Mg, Mn, Si и Cr составили 422.6, 361.3, 256.4, 481.9 и 300.3 мкг/г соответственно. После настройки параметров гальванометрического сканера достигнута максимальная частота дискретизации пикселей 2013 Гц. С помощью системы визуализации исследован реальный образец горной породы, в результате определено распределение девяти элементов – Mg, Al, Si, K, Li, O, Sr, Fe и Na – в соответствии с различными цветовыми областями на изображениях, что подтверждает работоспособность разработанной высокоскоростной системы визуализации.

Zhang S. , Xu B. , Chen F. , Chen Y. , Wu H. , Wang G. Разработка высокоскоростной системы визуализации методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с частотой дискретизации пикселей, превышающей 2000 Гц. Журнал прикладной спектроскопии. 2026;93(2):295-1-295-11.
Цитирование

Список литературы

Похожие публикации

Источник