<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Романов И. А.</author>
     <author>Власукова Л. А.</author>
     <author>Комаров Ф. Ф.</author>
     <author>Пархоменко И. Н.</author>
     <author>Ковальчук Н. С.</author>
     <author>Моховиков М. А.</author>
     <author>Мудрый А. В.</author>
     <author>Мильчанин О. В.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Фото- и электролюминесценция структур  оксид-нитрид-оксид-кремний для применения  в кремниевой оптоэлектронике</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>нитрид кремния</keyword>
    <keyword>оксид кремния</keyword>
    <keyword>фотолюминесценция</keyword>
    <keyword>электролюминесценция</keyword>
    <keyword>кремниевая оптоэлектроника</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2018</year>
    <pub-dates>
     <date>2018-10-29</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-8323-2018-62-5-546-554</doi>
   <journal>Доклады Национальной академии наук Беларуси</journal>
   <abstract>Структуры SiO2/SiN0,9/SiO2/Si с суммарной толщиной диэлектрических слоев 140 нм изготовлены методом химического осаждения из газовой фазы. Элементный состав и излучательные свойства полученных структур исследовались методами резерфордовского обратного рассеяния (POP), фото- и электролюминесценции (ФЛ, ЭЛ). Методом POP установлено наличие областей оксинитрида кремния на границах нитридного и оксидных слоев.Показано, что фотолюминесценция образца обусловлена свечением обогащенного кремнием слоя SiN0,9, тогда как электролюминесценция – свечением слоев оксида и оксинитрида кремния. Возбуждаемая He–Cd лазером (Eвозб = 3,82 эВ) фотолюминесценция структуры характеризуется широкой интенсивной полосой с максимумом при 1,9 эВ, связанной с излучательной рекомбинацией носителей заряда, локализованных в хвостах разрешенных зон нитрида кремния. Происхождение менее интенсивной полосы при 2,8 эВ в спектре ФЛ обусловлено наличием собственных дефектов (N-центров) в слое SiN0,9.ЭЛ возбуждалась в гальваностатическом режиме в системе электролит–диэлектрик–полупроводник (ЭДП) при средней величине напряженности электрического поля в структуре 5–6 МВ/см. Величина напряженности электрического поля в слоях оксида кремния составляла 7–8 МВ/см и превышала значение этого параметра в слое SiN0,9 в ~4 раза. Электроны, ускоренные в электрических полях 7–8 MB/см, могут разогреваться до энергии более 5 эВ, достаточной для возбуждения центров люминесценции в слоях оксида и оксинитрида кремния. Для изученной композиции Sio2/SiN0,9/SiO2/Si полосы ЭЛ с энергиями 1,9 и 2,3 эВ связаны с наличием в слоях оксида кремния силанольных групп (Si–OH) и трехкоординированных атомов кремния (О3≡Si•). Полоса с энергией 2,7 эВ приписана излучательной релаксации двухкоординированных атомов кремния (O2=Si:) в переходных областях оксинитрида кремния. Интенсивность свечения этой полосы обладает наибольшей устойчивостью к воздействию сильных электрических полей после протекания через образец заряда 1–3 Кл/см2.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/2721</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/2705</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
