<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Ковальчук Н. С.</author>
     <author>Мильчанин О. В.</author>
     <author>Комаров Ф. Ф.</author>
     <author>Пархоменко И. Н.</author>
     <author>Романов И. А.</author>
     <author>Гофэн Я. </author>
     <author>Цзюньцзюнь С. </author>
     <author>Харлович Ю. В.</author>
     <author>Роговая И. С.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Влияние режимов термообработки на структуру и оптические свойства слоев кремния, гипердопированных селеном</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>кремний</keyword>
    <keyword>имплантация Se</keyword>
    <keyword>равновесные и импульсная термообработки</keyword>
    <keyword>структура</keyword>
    <keyword>электросопротивление слоя</keyword>
    <keyword>концентрация носителей тока</keyword>
    <keyword>оптические свойства</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2026</year>
    <pub-dates>
     <date>2026-03-31</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-8358-2026-71-1-67-78</doi>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук</journal>
   <abstract>Ионной имплантацией Se (3,1 · 1015 см–2, 140 кэВ) с последующими тремя типами изотермической тер­ мообработки и с использованием импульсного лазерного отжига (ИЛО, 70 нс, 2 Дж/см2) получены гипердопированные селеном слои кремния на кремнии. Резерфордовское обратное рассеяние (РОР) ионов He+ в случайном и каналированном режимах и просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) использовались для анализа структурного состояния, распределения концентрации внедренной примеси и примеси в узлах кристаллической решетки Si по глубине до и после термообработок. Результаты, полученные методом РОР, свидетельствуют о том, что после ИЛО 72 % внедренной примеси находится в замещающем положении, часть ее уходит на поверхность. При изотермических отжигах ~ 50 % атомов Se попадает в узлы решетки Si, часть их уходит на сток на глубине, соответствующей исходному интерфейсу аморфный слой – кристалл до термообработки. Заметное увеличение оптического поглощения (~ 20 %) в ИК-диапазоне (1,1–2,5 мкм) зарегистрировано только при ИЛО имплантированного слоя, а для изотермических отжигов оно не превышало 1–2 %. Результаты исследований свидетельствуют о том, что большая часть атомов Se в узлах решетки кремниевой матрицы после равновесных термообработок находится в электрически неактивных состояниях. Такой эффект можно объяснить формированием большого количества нейтральных комплексов атомов селена, когда они встраиваются в соседние узлы кремниевой решетки и образуют ковалентные связи друг с другом. Сверхпересыщенные селеном слои кремния являются перспективным материалом для изготовления эффективных широкополосных фотоприемников и солнечных элементов со встроенной промежуточной подзоной в запрещенной зоне кремния. </abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/20704</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/20559</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
