<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Степанов А. Л.</author>
     <author>Рогов А. М.</author>
     <author>Сотникова В. Ф.</author>
     <author>Валеев В. Ф.</author>
     <author>Нуждин В. И.</author>
     <author>Коновалов Д. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Создание оптической профильной дифракционной решетки на основе нанопористого германия распылением ионами висмута</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>нанопористый германий</keyword>
    <keyword>распыление ионами висмута</keyword>
    <keyword>дифракционная решетка</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2026</year>
    <pub-dates>
     <date>2026-01-22</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Предложен метод для создания оптической профильной дифракционной решетки на основе нанопористых слоев германия (Ge) методом распыления ионами Bi+ подложки монокристаллического c-Ge при энергии E = 18 кэВ, плотности тока в ионном пучке J = 5 мкA/см2 и интервале доз D = 2.5 × 1016—1.0 × 1017 ион/см2 через сетчатую медную маску с размером квадратных ячеек 20 мкм. В процессе ионного облучения в немаскированных областях облучаемого c-Ge происходит распыление c-Ge и образования нанопористого слоя Bi:PGe. Формирование периодических микроструктур Bi:PGe на поверхности c-Ge контролировалось методами оптической, электронной и зондовой микроскопии. Функционирование дифракционной решетки показано путем ее зондирования излучением гелий-неонового лазера на длине волны 632.8 нм оптического спектрального диапазона.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/20333</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/20205</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
