Альес М. Ю., Шелковников Е. Ю., Чаусов Ф. Ф., Ломова Н. В., Исупов Н. Ю. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия в атмосфере аргона особой чистоты как метод исследования функциональных материалов на примере амальгам меди. Журнал прикладной спектроскопии. 2025;92(6):771-776.
1. E. Niknam, H. Naffakh-Moosavy. J. Hazard. Mater. Adv., 18 (2025) 100732, https://doi.org/10.1016/j.hazadv.2025.100732
2. W. Yang, S. Chen, W. Ren, Y. Zhao, X. Chen, C. Jia, J. Liu, C. Zhao. J. Mater. Chem. A, 7 (2019) 15907, https://doi.org/10.1039/c9ta03611c
3. T. Mussini, P. Longhi, S. Rondinini. Pure Appl. Chem., 57 (1985) 169—179, https://doi.org/10.1351/pac198557010169
4. A. Danhel, J. Barek. Current Org. Chem., 15 (2011) 2957—2969, https://doi.org/10.2174/138527211798357218
5. M. M. Carnasciali, G. A. Costa. J. Alloys Compd., 317-318 (2001) 491—496, https://doi.org/10.1016/S0925-8388(00)01376-1
6. Э. А. Маркова, Н. М. Черницова, Ю. С. Бородаев, Л. С. Дубакина, О. Е. Юшко-Захарова. Записки Всесоюзного минералогического общества, 109, № 2 (1980) 206—211
7. M. Fleischer, G. Y. Chao, C. A. Francis, A. Pabst. Am. Mineralogist, 66 (1981) 217—220, https://rruff.info/uploads/AM66_217.pdf
8. H.-J. Bernhardt, K. Schmetzer. Neues Jahrbuch für Mineralogie, Monatshefte (1992) 21—28
9. F. Lihl. Zeitschrift für Metallkunde, 44 (1953) 160—166, https://doi.org/10.1515/ijmr-1953-440411
10. F. Schoszberger. Zeitschrift für Physikalische Chemie, 29B, N 1 (1935) 65—78, https://doi.org/10.1515/zpch-1935-2905
11. К. Зигбан, К. Нордлинг, А. Фальман, Р. Нордберг, Я. Хедман, Г. Йохансон, Т. Бергмарк, С. Карлсон, И. Линдгрен, Б. Линдберг. Электронная спектроскопия, пер. с англ., Москва, Мир (1971)
12. Д. Бриггс, М. П. Сих. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, пер. с англ., Москва, Мир (1987)
13. L. K. Herrera, A. Duran, M. L. Franquelo, A. R. González-Elipe, J. P. Espinós, J. Rubio-Zuazo, G. R, Castro, A. Justo, J. L. Perez-Rodriguez. Central Eur. J. Chem., 7, N 1 (2009) 47—53, https://doi.org/10.2478/s11532-008-0089-1
14. T. Hanawai, H. Takahashi, M. Ota, R. F. Pinizzotto, J. L. Ferracane, T. Okabei. J. Dental Res., 66, N 9 (1987) 1470—1478, https://doi.org/10.1177/00220345870660091201
15. K. Z. Kamali, A. Pandikumar, S. Jayabal, R. Ramaraj, H. N. Lim, B. H. Ong, C. S. D. Bien, Y. Y. Kee, N.M. Huang. Microchim. Acta, 183 (2016) 369—377, https://doi.org/10.1007/s00604-015-1658-6
16. E. Talik, R. Babiarz-Zdyb, A. Dziedzic. J. Alloys Compd., 398 (2005) 276—282, https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2005.02.024
17. V. A. Trapeznikov, I. N. Shabanova, A. V. Kholzakov, A. G. Ponomaryov. J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 137–140 (2004) 383—385, https://doi.org/10.1016/j.elspec.2004.02.115
18. D. A. Shirley. Phys. Rev., 5 (1972) 4709—4714, https://doi.org/10.1103/PhysRevB.5.4709
19. M. Wojdyr. J. Appl. Crystallography, 43 (2010) 1126—1128, https://doi.org/10.1107/S0021889810030499
20. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Eden Prairie, Perkin-Elmer Corporation (1992)
21. K. Okada, A. Kotani. J. Phys. Soc. Japan, 58, N 7 (1989) 2578—2585, https://doi.org/10.1143/JPSJ.58.2578
22. M. C. Biesinger. Surface and Interface Analysis, 49 (2017) 1325—1334, https://doi.org/10.1002/sia.6239
23. Справочник химика, т. 3, Москва–Ленинград, Химия (1964) 746—749