<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Мельникова Г. Б.</author>
     <author>Маханёк А. А.</author>
     <author>Чижик С. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Неразрушающий  контроль  механических  свойств  и  толщины  пленок Ленгмюра–Блоджетт методом статической силовой спектроскопии</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>атомно-силовая микроскопия</keyword>
    <keyword>нанопленки</keyword>
    <keyword>технология Ленгмюра–Блоджетт</keyword>
    <keyword>механические свойства</keyword>
    <keyword>толщина</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2025</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-10-14</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-8358-2025-70-3-252-263</doi>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук</journal>
   <abstract>Рассмотрены механико-математические модели для расчета физико-механических свойств одно- и многослойных материалов нанометровой толщины, выбора точки контакта с учетом типа взаимодействия кантилевера с поверхностью материала, их преимущества и недостатки. Показана возможность расчета толщины многослойных материалов путем решения обратной задачи. Разработана методика неразрушающего контроля модуля упругости и толщины пленок Ленгмюра–Блоджетт на основе полиметилметакриалата по данным статической силовой микроскопии. Методом атомно-силовой микроскопии проведен анализ структуры и локальных физико-механических свойства пленок Ленгмюра–Блоджетт на основе полиметилметакрилата и композиционных, содержащих 41,7; 83,3; 167; 333 моль наночастиц SiO2 из расчета на 1 моль полимера. Разработана программа AFM1 для анализа данных статической силовой спектроскопии, в которой реализован выбор точки контакта по модели Джонсона– Кенделла–Робертса (ДКР), реализован расчет значений модуля упругости по модели Герца, ДКР, Сюэ–Миранда, Mакушкина  и  Меншика.  Проведено  сравнение  расчетных  значений  модуля  упругости  и  толщины  покрытий с использованием вышеуказанных моделей. Установлено, что значения толщины пленок, рассчитанные по модели Макушкина, коррелируют с экспериментальными данными, полученными путем создания искусственного дефекта в пленке. Полученные результаты актуальны для диагностики и анализа свойств новых функциональных наноматериалов.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/19972</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/19860</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
