<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Босак Н. А.</author>
     <author>Шпак П. В.</author>
     <author>Чумаков А. Н.</author>
     <author>Баран Л. В.</author>
     <author>Малютина-Бронская В. В.</author>
     <author>Дробуш В. С.</author>
     <author>Кузьмицкая А. С.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Морфология поверхности, оптические и электрофизические свойства пленок Nb&lt;sub&gt;2&lt;/sub&gt;O&lt;sub&gt;5&lt;/sub&gt;</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>высокочастотное лазерное воздействие</keyword>
    <keyword>тонкая пленка</keyword>
    <keyword>спектры пропускания и отражения</keyword>
    <keyword>вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики</keyword>
    <keyword>спектральная чувствительность</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2025</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-09-07</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Представлены результаты комплексного исследования тонких пленок оксида ниобия Nb2O5, осажденных в вакууме (p = 2.2 Па) на кварцевую и кремниевую подложки при многоимпульсном высокочастотном (f ~ 10—12 кГц) лазерном воздействии на керамическую мишень при плотности мощности лазерного излучения q = 81 МВт/см2. Изучена морфология полученных пленок с помощью атомно-силовой микроскопии, выявлены особенности спектров пропускания. Проведен анализ фотоэлектрических свойств структуры Nb2O5/Si.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/19762</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/19666</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
