Gao S. , Lin X. , Huang Y. , Chen Z. , Chen H. Быстрое выявление дефектов в металлических компонентах аддитивного производства с помощью лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии в сочетании с нейронной сетью обратного распространения и алгоритмом случайного леса // Журнал прикладной спектроскопии. 2025 Т.92, №3. С.414.