<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Srinivasan T. K.</author>
     <author>Suneesh А. S.</author>
     <author>Thirunavkarasu N. </author>
     <author>Sathis Kumar S. </author>
     <author>Chandrasekaran S. </author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Морфология и оптические свойства наноструктур вольфрамата кадмия</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>CdWO4</keyword>
    <keyword>гидротермальный</keyword>
    <keyword>диэтиленгликоль</keyword>
    <keyword>динамическое рассеяние света</keyword>
    <keyword>фотолюминесценция</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2025</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-05-20</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Нанокристаллические частицы CdWO4 синтезированы методом соосаждения с использованием диэтиленгликоля (DEG) в качестве покрывающего агента, с последующей гидротермальной обработкой и охарактеризованы с помощью рентгеновской дифракции (XRD), сканирующей электронной микроскопии (SEM), динамического рассеяния света, ИК-Фурье-спектроскопии, спектроскопии комбинационного рассеяния света (КР), поглощения в УФ-видимом диапазоне и фотолюминесцентного анализа. Анализ XRD подтвердил образование моноклинной структуры в CdWO4. С помощью SEM наблюдались однородные длинные стержнеобразные морфологии NanoRect длиной &amp;lt;20–300 нм. Распределение гидродинамических размеров синтезированных частиц увеличивалось от 20 до 1500 нм с ростом концентрации DEG. КР-анализ подтвердил моноклинную структуру полученного CdWO4. Уменьшение ширины сильной моды колебаний при 897 см–1 с ростом температуры отжига указывает на увеличение размера кристаллита по мере того, как кристалл эволюционирует с температурой. Из измерений поглощения в УФ-видимом диапазоне следует, что ширина запрещенной зоны CdWO4 варьируется от 2.47 до 4.06 эВ. Ширина запрещенной зоны увеличивается с увеличением деформации решетки, что подтверждается результатами XRD. Измерения в УФ-видимом диапазоне показывают, что ширина запрещенной зоны CdWO4 возрастает с увеличением деформации в образце. Широкий интенсивный пик излучения наблюдался при 482 нм, когда образцы возбуждались при 298 нм.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/19391</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/19333</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
