<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Босак Н. А.</author>
     <author>Чумаков А. Н.</author>
     <author>Баран Л. В.</author>
     <author>Малютина-Бронская В. В.</author>
     <author>Райченок Т. Ф.</author>
     <author>Иванов А. А.</author>
     <author>Кирис В. В.</author>
     <author>Дятлова Е. М.</author>
     <author>Шевченок А. А.</author>
     <author>Бука А. В.</author>
     <author>Кузьмицкая А. С.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Морфология поверхности, оптические и электрофизические свойства пленок ванадата иттрия YVO4</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>высокочастотное лазерное воздействие</keyword>
    <keyword>структура тонких пленок</keyword>
    <keyword>спектры пропускания и отражения</keyword>
    <keyword>электрофизические характеристики</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2025</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-03-27</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Методом высокочастотного импульсно-периодического (f ~ 13 кГц) воздействия лазерного излучения с длиной волны 1.064 мкм и плотностью мощности q = 64 МВт/см2 на керамику ванадата иттрия YVO4 при давлении в вакуумной камере p = 3 Па получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой подложке. Методом атомно-силовой микроскопии изучена морфология тонких пленок YVO4. Получены спектры пропускания пленок в видимой, ближней и средней ИК-областях. Проведен анализ электрофизических свойств структуры YVO4/Si.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/19275</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/19219</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
