17 Grace Masih V. . Kumar N. . Srivastava A. . тонкие пленки ZnO легирующая примесь Ni оптическая запрещенная зона фотолюминесценция ZnO thin films Ni dopant optical band gap photoluminescence 2017 2025-03-12 Журнал прикладной спектроскопии Тонкие пленки оксида цинка, легированного никелем (Zn1- x NixO), показывают красное смещение оптической запрещенной зоны и края полосы фотолюминесценции. В тонких пленках Zn1- x NixO, полученных методом золь-гелевого центрифугирования, имеет место уменьшение ширины запрещенной зоны от 3.23 до 3.00 эВ при увеличении концентрации никеля от x = 0.00 до x = 0.06. Все тонкие пленки Zn1- x NixO имеют гексагональную структуру вюрцита и показывают уменьшение энергии края полосы эмиссии на 119 мэВ при увеличении концентрации легирующей примеси. Рентгеноструктурная спектроскопия свидетельствует об образовании ZnO в пленках; ИК-фурье-спектроскопия в ближней ИК области подтверждает это. Энергодисперсионный рентгеновский анализ также выявляет присутствие Ni в пленках и дает количество легирующей примеси, присутствующей в пленках. Сканирующая электронная микроскопия показывает, что все легированные Ni тонкие пленки ZnO обладают гранулярной морфологией поверхности. https://www.academjournals.by/publication/16523 https://www.academjournals.by/files/16477