RT - article
SR - Electronic
T1 - ЛАЗЕРНО-ИСКРОВАЯ ЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ НА ОСНОВЕ ДЛИННО-ИМПУЛЬСНЫХ ЛАЗЕРОВ И ПАРАМЕТРЫ ПЛАЗМЫ, ГЕНЕРИРУЕМОЙ НА ОБРАЗЦАХ ПОЧВЫ
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2025-03-12
A1 - Xu S. ., 
A1 - Duan W. ., 
A1 - Ning R. ., 
A1 - Li Q. ., 
A1 - Jiang R. ., 
YR - 2017
UL - https://www.academjournals.by/publication/16347
AB - Плазма образовывалась при фокусировке длинного импульса (80 мкс) YAG:Nd-лазера на образцы почвы, обогащенные хромом. Для построения калибровочной кривой использовано отношение интенсивностей спектральных линий Cr 425.435 и Fe 425.079 нм, взятой в качестве эталона. Получены коэффициент регрессии калибровочной кривой 0.993, предел обнаружения 16 мг/кг, что на 19% меньше, чем при использовании лазера с модулированной добротностью. Метод длинно-импульсной лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии позволяет получать лазерно-индуцированную плазму с температурой 15795.907 К и электронной плотностью 2.988´1017 cм-3, что превышает соответствующие параметры плазмы, образованной лазером с модулированной добротностью, на 75 и 24 %.