<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Длугунович В. А.</author>
     <author>Жумарь А. Ю.</author>
     <author>Мухуров Н. И.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НАНОПОРИСТЫХ ПЛЕНОК ОКСИДА АЛЮМИНИЯ МЕТОДАМИ СТОКС-ПОЛЯРИМЕТРИИ И МАТРИЦЫ КОГЕРЕНТНОСТИ</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>нанопористая пленка</keyword>
    <keyword>оксид алюминия</keyword>
    <keyword>параметры Стокса</keyword>
    <keyword>матрица когерентности</keyword>
    <keyword>сдвиг фаз</keyword>
    <keyword>систематическая погрешность</keyword>
    <keyword>nanoporous film</keyword>
    <keyword>alumina</keyword>
    <keyword>Stokes parameters</keyword>
    <keyword>coherence matrix</keyword>
    <keyword>phase shift</keyword>
    <keyword>systematic error</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2018</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-03-12</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Методами стокс-поляриметрии и матрицы когерентности исследовано влияние амплитудной анизотропии нанопористых пленок оксида алюминия и деполяризации прошедшего излучения на разность фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего исследуемые пленки. Образцы освещались под углами от 0 до 60° линейно поляризованным излучением с азимутом поляризации 45° в диапазоне длин волн 400-1000 нм. Определена систематическая погрешность, вносимая в разности фаз ортогонально поляризованных компонент прошедшего излучения вследствие неучета амплитудной анизотропии материала и деполяризации излучения.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/16305</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/16259</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
