TY  - JOUR
T1  - УЧЕТ ВЗАИМНОГО ВЛИЯНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ ТОНКИХ ДВУХСЛОЙНЫХ Ti/V-СИСТЕМ
JF  - Журнал прикладной спектроскопии
AU  - Машин Н. И., 
AU  - Разуваев А. Г., 
AU  - Черняева Е. А., 
AU  - Гафарова Л. М., 
AU  - Ершов А. В., 
Y1  - 2025-03-12
UR  - https://www.academjournals.by/publication/16179
N2  - Предложен новый способ определения толщины слоев при рентгенофлуоресцентном анализе двухслойных систем Ti/V с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых напылением титана на подложку из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие уровень ослабления интенсивности первичного излучения рентгеновской трубки и аналитической линии элемента нижнего слоя в верхнем слое и усиления интенсивности флуоресценции верхнего слоя излучением атомов нижнего.