RT - article
SR - Electronic
T1 - УЧЕТ ВЗАИМНОГО ВЛИЯНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ ТОНКИХ ДВУХСЛОЙНЫХ Ti/V-СИСТЕМ
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2025-03-12
A1 - Машин Н. И., 
A1 - Разуваев А. Г., 
A1 - Черняева Е. А., 
A1 - Гафарова Л. М., 
A1 - Ершов А. В., 
YR - 2018
UL - https://www.academjournals.by/publication/16179
AB - Предложен новый способ определения толщины слоев при рентгенофлуоресцентном анализе двухслойных систем Ti/V с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых напылением титана на подложку из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие уровень ослабления интенсивности первичного излучения рентгеновской трубки и аналитической линии элемента нижнего слоя в верхнем слое и усиления интенсивности флуоресценции верхнего слоя излучением атомов нижнего.