17 Машин Н. И. Разуваев А. Г. Черняева Е. А. Гафарова Л. М. Ершов А. В. рентгенофлуоресцентный анализ тонкая двухслойная пленка поправочный коэффициент массовый коэффициент поглощения подложка из пленки полимера X-ray fluorescence analysis thin two-layer film correction coefficient absorption coefficient polymer substrate 2018 2025-03-12 Журнал прикладной спектроскопии Предложен новый способ определения толщины слоев при рентгенофлуоресцентном анализе двухслойных систем Ti/V с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых напылением титана на подложку из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие уровень ослабления интенсивности первичного излучения рентгеновской трубки и аналитической линии элемента нижнего слоя в верхнем слое и усиления интенсивности флуоресценции верхнего слоя излучением атомов нижнего. https://www.academjournals.by/publication/16179 https://www.academjournals.by/files/16133