17 Тихий А. А. Николаенко Ю. М. Корнеевец А. С. Свиридова Е. А. Жихарева Ю. И. Жихарев И. В. эллипсометрия моделирование тонкие пленки манганиты оксид индия 2019 2020-03-17 Журнал прикладной спектроскопии Рассматриваются практические аспекты моделирования однослойных тонкопленочных покрытий при интерпретации результатов эллипсометрических измерений. Сформулированы ограничения, накладываемые на количество и параметры слоев модели, толщиной скин-слоя и погрешностью измерений. Представленные теоретические заключения экспериментально подтверждены исследованиями тонких пленок состава La0.7Sr0.3 MnO3 и In2O3. https://www.academjournals.by/publication/16055 https://www.academjournals.by/files/16009