<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Черняева Е. А.</author>
     <author>Князева А. А.</author>
     <author>Зимина Е. О.</author>
     <author>Белякова И. С.</author>
     <author>Машин Н. И.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАССОВОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ В ДВУХСЛОЙНОЙ ТОНКОПЛЕНОЧНОЙ СИСТЕМЕ Cr/Co РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫМ МЕТОДОМ</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>рентгенофлуоресцентный метод</keyword>
    <keyword>тонкая двухслойная пленка</keyword>
    <keyword>поправочный коэффициент</keyword>
    <keyword>массовый коэффициент поглощения</keyword>
    <keyword>подложка из пленки полимера</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2019</year>
    <pub-dates>
     <date>2020-03-17</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Предложен способ определения массового коэффициента поглощения при рентгенофлуоресцентном анализе двухслойных тонкопленочных систем Cr/Co на подложках из поликора с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых нанесением хрома на подложки из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие ослабление первичного излучения рентгеновской трубки и интенсивности аналитических линий элемента нижнего слоя в верхнем слое.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/16054</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/16008</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
