КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В МАШИННОМ МАСЛЕ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СПЕКТРОСКОПИИ ЛАЗЕРНО-ИНДУЦИРОВАННОЙ ПЛАЗМЫ

Xiu J. .; Dong L. .; Liu Y. .; Li J. .

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В МАШИННОМ МАСЛЕ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СПЕКТРОСКОПИИ ЛАЗЕРНО-ИНДУЦИРОВАННОЙ ПЛАЗМЫ

Xiu J. ., Dong L. ., Liu Y. ., Li J. .

2019

Исследовано влияние матрицы на калибровочные кривые аналитических элементов Cu, Ti, Fe и Ni в пяти различных маслах. Показано, что это влияние пренебрежимо мало. Поэтому для металлов в различных типах масел может быть получена обобщенная калибровочная кривая. Представлены такие обобщенные калибровочные кривые для определения концентраций Cu, Ti, Fe и Ni. Результаты спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы показывают хорошее соответствие между измеренными и известными концентрациями металлов в образцах.

Xiu J. ., Dong L. ., Liu Y. ., Li J. . КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В МАШИННОМ МАСЛЕ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СПЕКТРОСКОПИИ ЛАЗЕРНО-ИНДУЦИРОВАННОЙ ПЛАЗМЫ. Журнал прикладной спектроскопии. 2019;86(1):51-57.

Цитирование

Список литературы

1. M. A. Gondal, T. Hussain, Z. H. Yamani, M. A. Baig, Talanta, 69, No. 5, 1072-1078 (2006).

2. J. O. Nriagu, J. M. Pacyna, Nature, 333, No. 6169, 134-139 (1998).

3. R. Q. Aucélio, R. M. de Souza, R. C. de Campos, N. Miekeley, C. L. P. da Silveira, Spectrochim. Acta B, 62, No. 9, 952-961 (2007).

4. Y. H. Wei, J. Y. Zhang, T. C. Dai, T. H. Tu, L. G. Luo, Food Sci., 32, No. 12, 213-215 (2011).

5. K. J. Eisentraut, R. W. Newman, C. S. Saba, R. E. Kauffman, W. E. Rhine, Anal. Chem., 56, No. 9, 1086A-1091A (1984).

6. B. F. Reis, M. Knochen, G. Pignalosa, N. Cabrera, J. Giglio, Talanta, 64, No. 5, 1220-1225 (2004).

7. A. V. Zmozinski, A. de Jesus, M. G. R. Vale, M. M. Silva, Talanta, 83, No. 2, 637-643 (2010).

8. R. M. Souza, C. L. P. da Silveira, R. Q. Aucélio, Anal. Sci., 20, No. 2, 351-355 (2004).

9. G. M. Mastoi, M. Y. Khuhawar, R. B. Bozdar, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transfer, 102, No. 2, 236-240 (2006).

10. M. P. Escobar, B. W. Smith, J. D. Winefordner, Anal. Chim. Acta, 320, No. 1, 11-17 (1996).

11. I. M. Goncalves, M. Murillo, A. M. Gonzalez, Talanta, 47, No. 4, 1033-1042 (1998).

12. P. Celio, C. Juliana, M. C. S. Lucas, B. G. Fabinao, J. Braz. Chem. Soc., 18, No. 3, 463-512 (2007).

13. A. De Giacomo, M. Dell’Aglio, O. De Pascale, M. Capitelli, Spectrochim. Acta B, 62, No. 8, 721-738 (2007).

14. P. Fichet, P. Mauchien, J. F. Wagner, C. Moulin, Anal. Chim. Acta, 429, No. 2, 269-278 (2001).

15. C. A. D’Angelo, M. Garcimuño, D. M. D. Pace, G. Bertuccellil, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transfer, 164, 89-96 (2015).

16. F. Boué-Bigne, Spectrochim. Acta B, 63, No. 10, 1122-1129 (2008).

17. J. Kaiser, M. Galiová, K. Novotný, R. Červenk, L. Reale, J. Novotný, M. Liška, O. Samek, V. Kanický, A. Hrdličk, K. Stejskal, V. Adam, R. Kizek, Spectrochim. Acta B, 64, No. 1, 67-73 (2009).

18. F. Y. Yueh, R. C. Sharma, J. P. Singh, H. S. Zhang, W. A. Spencer, Air Waste Manage., 52, No. 11, 1307-1315 (2002).

19. J. S. Xiu, X. S. Bai, E. Negre, V. Motto-Ros, J. Yu, Appl. Phys. Lett., 102, No. 102, 2441011-2441015 (2013).

20. J. S. Xiu, V. Motto-Ros, G. Panczer, R. E. Zheng, J. Yu, Spectrochim. Acta B, 91, 24-30 (2014).

21. P. Yaroshchyk, R. J. S. Morrison, D. Body, B. L. Chadwick, Spectrochim. Acta B, 60, No. 11, 1482-1485 (2005).

Источник

Информация

Автор

Xiu J. . Школа физики и оптоэлектронной техники, Шаньдунский технологический университет
Dong L. . Школа химии и химической инженерии, Технологический университет Шаньдун
Liu Y. . Школа физики и оптоэлектронной техники, Шаньдунский технологический университет
Li J. . Школа физики и оптоэлектронной техники, Шаньдунский технологический университет

Страницы

51-57

Год издания

2019

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии