СОКРАЩЕНИЕ ИНТЕРВАЛОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТЕЙ РЕЛАКСАЦИИ ЯМР 1/T1 И 1/T2 В D2O-СОДЕРЖАЩИХ КИСТАХ ИЛИ АБСЦЕССАХ ЧЕЛЮСТИ: ОТДЕЛЕНИЕ КИСТ ОТ АБСЦЕССОВ

Yilmaz U. N.; Yilmaz B. D.

СОКРАЩЕНИЕ ИНТЕРВАЛОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТЕЙ РЕЛАКСАЦИИ ЯМР 1/T₁ И 1/T₂ В D₂O-СОДЕРЖАЩИХ КИСТАХ ИЛИ АБСЦЕССАХ ЧЕЛЮСТИ: ОТДЕЛЕНИЕ КИСТ ОТ АБСЦЕССОВ

Yilmaz U. N., Yilmaz B. D.

2020

Проведены исследования дифференциации кист и абсцессов с помощью сокращения интервала распределения скорости релаксации (SRDI) 1/T1 и 1/T2 для D2O-содержащих кист или содержимого абсцесса с целью возможности создания нового механизма контрастирования МРТ для поражений зубов. У пациентов собрано 19 одонтогенных кист челюсти и 12 абсцессов челюсти. Смесь готовили путем добавления 0.06 мл содержимого кисты или абсцесса к 0.94 мл D2O. Эксперименты проводились на ЯМР-спектрометре, работающем на частоте 400 МГц. Среднее значение 1/T2 абсцессов значительно отличалось от такового для кист (P <0.005), но среднее значение 1/T1 негеморрагических кист не отличалось от такового для абсцессов (P = 0.626). Коэффициенты SRDI 1/T1 и 1/T2 для кистозной смеси 16.36 и 4.22, для смеси с содержимым абсцесса 8.39 и 2.68, т. е. снижение скорости релаксации смеси приводит к сокращению интервалов распределения, что способствует отделению кист от абсцессов. Высокие коэффициенты сокращения интервалов указывают, что полученные результаты могут стать основой для исследований нового механизма магнитнорезонансного контрастирования при поражениях челюсти.

Yilmaz U. N., Yilmaz B. D. СОКРАЩЕНИЕ ИНТЕРВАЛОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТЕЙ РЕЛАКСАЦИИ ЯМР 1/T₁ И 1/T₂ В D₂O-СОДЕРЖАЩИХ КИСТАХ ИЛИ АБСЦЕССАХ ЧЕЛЮСТИ: ОТДЕЛЕНИЕ КИСТ ОТ АБСЦЕССОВ. Журнал прикладной спектроскопии. 2020;87(5):851(1)-851(5).

Цитирование

Список литературы

1. M. Minami, T. Kaneda, K. Ozawa, H. Yamamoto, Y. Itai, M. Ozawa, K. Yoshikawa, Y. Sasaki, Am. J. Roentgenol., 166, N 4, 943–949 (1996).

2. M.Sumi,Y.Ichikawa, I.Katayama,S.Tashiro, T. Nakamura, Am. J. Neuroradiol., 29, N 10, 1897–1901 (2008).

3. A. Juerchott, T. Pfefferle, C. Flechtenmacher, J. Mente, M. Bendszus, S. Heiland, T. Hilgenfeld, Int. J. Oral Sci., 10, N 2, 17–24 (2018).

4. S. Kiihne, R. G. Bryant, Biophys. J., 78, 2163–2169 (2000).

5. H. Budak, M. Z. Koylu, U. N. Yilmaz, Spectroscopy, 20, 177–183 (2006).

6. A. Yilmaz, B. Zengin, F. S. Ulak, J. Appl. Spectrosc., 81, N 3, 365–370 (2014).

7. A. Yilmaz, B. Zengin, J. Appl. Spectrosc., 80, N 3, 335–340 (2013).

8. B. Erol, U. N. Yilmaz, R. Tanrikulu, A. Yilmaz, Dentomaxillofac. Radiol., 33(3), 183–187 (2004).

9. N. Binbay, U. N. Yilmaz, Proc. BPL 2012, 20, 269–273 (2012).

10. F. N. Wang, S. L. Peng, C. T. Lu, H. H. Peng, T. C. Yeh, NMR Biomed., 26, N 6, 692–698 (2013).

11. J. B. L. McDouall, J. L. Evelhoch, Cancer Res., 50, 363–369 (1990).

12. J. J. Ackerman, C. S. Ewy, N. N. Becker, R. A. Shalwitz, Proc. Nat. Acad. Sci. USA, 84, N 12, 4099–4102 (1987).

13. I. K. Ilvonen, I. Palva, M. Perämäki, R. Joensuu, S. Sepponen, J. Magn. Reson., 49, N 1, 36–44 (2001).

14. U. N. Yilmaz, F. Yaman, S. S. Atılgan, Dentomaxillofac. Radiol., 41, N 5, 385–391 (2012).

15. M. Fujita, H. Matsuzaki, Y. Yanagi, M. Hara, N. Katase, M. Hisatomi, T. Unetsubo, H. Konouchi, H. Nagatsuka, J.-I. Asaumi, Dentomaxillofac. Radiol., 42, N 5, 20120265 (2013); doi: 10.1259/dmfr.201202.

16. H. Konouchi, Y. Yanagi, M. Hisatomi, H. Matsuzaki, T. Takenobu, T. Unetsubo, J.-I. Asaumi, Jpn. Dent. Sci. Rev., 48, N 2, 81–91 (2012).

17. A. S. B. Pinto, A. L. F. Costa, N. D. S. Galvão, T. L. D. Ferreira, S. L. P. de Castro Lopes, Case. Rep. Dent., Hindawi Publishing Corporation, 2016, Article ID 2806235 (2016); https://doi.org/10.1155/2016/2806235.

18. E. W. Olcott, G. A. Wright, K. C. Li, P. P. Pattarelli. J. Magn. Reson. Imaging, 9, 81–86 (1999).

19. A. Van-Quynh, S. Willson, R. G. Bryant, Biophys J., 84, 558–563 (2003).

20. U. N. Yilmaz, R. Guner, B. Erol, Biol. Trace Elem. Res., 133, N 2, 144–152 (2009).

21. R. P. Prakash, K. Shyamala, H. C. Girish, S. Murgod, S. Sing, P. S. V. Rani, J. Med. Radiol. Pathol. Surg., 2, 15–17 (2016).

22. U. Ludwig, A. K. Eisenbeiss, C. Scheifele, K. Nelson, M. Bock, J. Hennig, D. von Ervelveld, O. Herdt, T. Flügge, J.-B. Hövener, Sci. Rep., 6, 23301 (2016); https://doi.org/10.1038/srep23301.

Источник

Информация

Автор

Yilmaz U. N. Университет Дикле
Yilmaz B. D. Университет Дикле

Страницы

851(1)-851(5)

Год издания

2020

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии