<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Сулейманов С. Х.</author>
     <author>Гременок В. Ф.</author>
     <author>Хорошко В. В.</author>
     <author>Иванов В. А.</author>
     <author>Дыскин В. Г.</author>
     <author>Джанклич М. У.</author>
     <author>Кулагина Н. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ АНТИОТРАЖАЮЩИХ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ Al2O3–SiО2 ДЛЯ КРЕМНИЕВЫХ СОЛНЕЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>композиционное антиотражающее покрытие</keyword>
    <keyword>коэффициент отражения</keyword>
    <keyword>кремниевый солнечный элемент</keyword>
    <keyword>эффективность солнечного элемента</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2020</year>
    <pub-dates>
     <date>2020-09-17</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Представлены результаты моделирования, получения и исследования интегрального коэффициента отражения (RS) однослойных композиционных антиотражающих покрытий Al2O3-SiO2 для кремниевых солнечных элементов с интегральным коэффициентом отражения RS £10 %. Показано, что при концентрациях Al2O3 = 52-84 мас.% и SiO2 = 16-48 мас.% и толщине 53-97 нм минимальные значения для Al2O3 RS = 73-77 %, для SiO2 RS = 27-23 % и толщине 69-75 нм. Экспериментально показано, что для слоев Al2O3:SiO2 = 75:25 % толщиной 72 нм RS = 3.53 %, что примерно в два раза ниже, чем RS для покрытия Si3N4.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15916</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15870</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
