<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Летко Э. В.</author>
     <author>Ландман К. С.</author>
     <author>Соколов А. Д.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>АНАЛИЗ ПАКЕТОВ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО ОНЛАЙН-КОНТРОЛЯ МАТЕРИАЛОВ НА КОНВЕЙЕРЕ</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>рентгенофлуоресцентный анализ</keyword>
    <keyword>элементный анализ</keyword>
    <keyword>онлайн-анализ материалов</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2020</year>
    <pub-dates>
     <date>2020-06-30</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Рентгенофлуоресцентный анализ с использованием метода фундаментальных параметров без необходимости калибровки по стандартным образцам крайне необходим для некоторых применений. Проанализирована точность расчетов концентрации элементов, выполненных с использованием метода фундаментальных параметров в программном обеспечении XRS-FP. Возможность проведения рентгенофлуоресцентного анализа без необходимости в контрольных образцах делает этот программный пакет незаменимым для анализа неизвестных образцов.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15885</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15839</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
