17 Бордун О. М. Бордун И. О. Кофлюк И. Н. Кухарский И. И. Медвидь И. И. оксид иттрия тонкая пленка край фундаментального поглощения 2021 2021-11-27 10.47612/0514-7506-2021-88-6-881-886 Журнал прикладной спектроскопии Исследован длинноволновый край полосы фундаментального поглощения тонких пленок Y2O3, полученных методом высокочастотного ионно-плазменного распыления. Показано, что при нанесении пленок в атмосфере аргона, кислорода или смеси данных газов край межзонного поглощения хорошо аппроксимируется эмпирическим правилом Урбаха. Для анализа экспериментальных результатов рассмотрены дифрактограммы полученных пленок и использована модель сильнолегированного или дефектного полупроводника в квазиклассическом приближении. Использование данной модели позволяет определить радиус основного электронного состояния, радиус экранирования и среднеквадратичный потенциал в зависимости от атмосферы распыления.  https://www.academjournals.by/publication/15788 https://www.academjournals.by/files/15742