<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Gao Q. </author>
     <author>Liu Sh. </author>
     <author>Xiu J. </author>
     <author>Li Zh. </author>
     <author>Liu Y. </author>
     <author>Liu H. </author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Анализ стекол, покрытых тонкими пленками Zn-Cr-Sn-O, методом спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением и спектроскопии пропускания</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>тонкая пленка Zn-Cr-Sn-O</keyword>
    <keyword>спектроскопия лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением</keyword>
    <keyword>стекло</keyword>
    <keyword>оптические свойства</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2021</year>
    <pub-dates>
     <date>2021-10-10</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Тонкие пленки ZnO с примесью Sn и Cr (ZCTO) наносились на поверхность стеклянной подложки методом радиочастотного магнетронного распыления. Спектроскопия лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением (ps-LIBS) применена для быстрого анализа легирующих элементов в тонкой пленке ZCTO. Спектры пропускания стекол, покрытых тонкими пленками ZCTO, осажденными при разном времени распыления, зарегистрированы с помощью спектрофотометра UV-VIS-NIR. Красный сдвиг на 45±2 нм, отмеченный на крае поглощения спектра пропускания (УФ-полоса 330–400 нм), выделялся с увеличением времени распыления. Определены ширины оптических запрещенных зон тонких пленок ZCTO, которые оказались большими, чем у тонких пленок ZnO. Установлена связь между LIBS-сигналом и оптическими свойствами образцов стекла.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15775</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15729</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
