RT - article
SR - Electronic
T1 - Многопараметрическая калибровка концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерноискровой эмиссионной спектроскопии по необработанным спектрам с низким разрешением
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2021-10-10
A1 - Бельков М. В., 
A1 - Борисевич Д. А., 
A1 - Кацалап К. Ю., 
A1 - Ходасевич М. А., 
YR - 2021
UL - https://www.academjournals.by/publication/15760
AB - По необработанным лазерно-искровым эмиссионным спектрам низкого разрешения, зарегистрированным для эталонных образцов низколегированных сталей, построены многопараметрические модели для калибровки концентраций шести химических элементов (C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu), представляющих собой основные технологические примеси и легирующие добавки. Многопараметрические модели содержания C (среднеквадратичное отклонение калибровки по проверочной выборке 0.06 %) и Mn (0.12 %) являются количественными с достаточной для практического применения точностью, полуколичественными для Si (0.09 %) и Ni (0.07 %) и качественными для Cr (0.13 %) и Cu (0.08 %).