<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Босак Н. А.</author>
     <author>Чумаков А. Н.</author>
     <author>Шевченок А. А.</author>
     <author>Баран Л. В.</author>
     <author>Кароза А. Г.</author>
     <author>Малютина-Бронская В. В.</author>
     <author>Иванов А. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Оптические и электрофизические свойства тонких пленок оксида цинка, легированных оксидом марганца и полученных методом лазерного осаждения</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>высокочастотное лазерное воздействие</keyword>
    <keyword>легированный марганцем оксид цинка</keyword>
    <keyword>структура тонких пленок</keyword>
    <keyword>спектры пропускания и отражения</keyword>
    <keyword>фазовый контраст</keyword>
    <keyword>электрофизические характеристики</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2021</year>
    <pub-dates>
     <date>2021-05-28</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Методом высокочастотного импульсно-периодического f ~10—15 кГц лазерного воздействия с длиной волны l = 1.064 мкм и плотностью мощности q = 150 МВт/см2 на керамику из оксида цинка, легированного оксидом марганцем, получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой подложке при давлении в вакуумной камере p = 2.7 Па. Изучены морфология поверхности и элементный состав полученных пленок с помощью атомно-силовой микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа. Выявлены особенности спектров пропускания в видимой, ближней и средней ИК-областях. Проведен анализ электрофизических свойств гетероструктуры ZnO+2% MnO2/Si.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15698</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15654</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
