Bharti A. S., Sharma S. , Singh A. K., Tiwari M. K., Uttam K. N. Неразрушающий метод оценки элементного профиля листвы с помощью индуцированной синхротронным излучением энергодисперсионной рентгеновской флуоресцентной спектроскопии. Журнал прикладной спектроскопии. 2021;88(3):503(1)-503(9).