Ссылка для цитирования по ГОСТ
Bharti A. S., Sharma S. , Singh A. K., Tiwari M. K., Uttam K. N. Неразрушающий метод оценки элементного профиля листвы с помощью индуцированной синхротронным излучением энергодисперсионной рентгеновской флуоресцентной спектроскопии // Журнал прикладной спектроскопии. 2021 Т.88, №3. С.503(1)-503(9).