ЛАЗЕРНАЯ ГЕНЕРАЦИЯ В ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ С КВАНТОВЫМИ ЯМАМИ CdxHg1–xTe/CdyHg1–yTe С МИКРОДИСКОВЫМИ РЕЗОНАТОРАМИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 4.1—5.1 мкм

Разова А. А.; Уточкин В. В.; Фадеев М. А.; Румянцев В. В.; Дубинов А. А.; Кудрявцев К. Е.; Шенгуров Д. В.; Морозова Е. Е.; Скороходов Е. В.; Михайлов Н. Н.; Дворецкий С. А.; Гавриленко В. И.; Морозов С. В.

ЛАЗЕРНАЯ ГЕНЕРАЦИЯ В ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ С КВАНТОВЫМИ ЯМАМИ Cd_xHg_1–xTe/Cd_yHg_1–yTe С МИКРОДИСКОВЫМИ РЕЗОНАТОРАМИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 4.1—5.1 мкм

2022

https://doi.org/10.47612/0514-7506-2022-89-5-632-637

Исследованы спектры фотолюминесценции и лазерного излучения структуры с квантовыми ямами на основе твердого раствора CdHgTe с микродисковыми резонаторами разных диаметров. Показано, что наличие резонатора способствует повышению максимальной рабочей температуры генерации по сравнению с непроцессированной структурой.

Разова А. А., Уточкин В. В., Фадеев М. А., Румянцев В. В., Дубинов А. А., Кудрявцев К. Е., Шенгуров Д. В., Морозова Е. Е., Скороходов Е. В., Михайлов Н. Н., Дворецкий С. А., Гавриленко В. И., Морозов С. В. ЛАЗЕРНАЯ ГЕНЕРАЦИЯ В ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ С КВАНТОВЫМИ ЯМАМИ Cd_xHg_1–xTe/Cd_yHg_1–yTe С МИКРОДИСКОВЫМИ РЕЗОНАТОРАМИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 4.1—5.1 мкм. Журнал прикладной спектроскопии. 2022;89(5):632-637. https://doi.org/10.47612/0514-7506-2022-89-5-632-637

Цитирование

Список литературы

1. F. K. Tittel, R. Lewicki, M. Jahjah, B. Foxworth, Y. Ma, L. Dong, R. Griffin, K. Krzempek, Pr. Stefanski, J. Tarka. In: Terahertz and Mid Infrared Radiation: Detection of Explosives and CBRN, Using Terahertz, Springer, Netherlands (2014) 153—165

2. J. Haas, B. Mizaikoff. Annu. Rev. Anal. Chem., 9 (2016) 45—68

3. Yu Yao, A. J. Hoffman, C. F. Gmachl. Nat. Photon., 6 (2012) 432—439

4. A. Hugi, R. Maulini, J. Faist. Semicond. Sci. Technol., 25 (2010) 083001

5. A. Rogalski. Rep. Progress Phys., 68, N 10 (2005) 2267—2336

6. B. A. Bernevig, T. L. Hughes, S.-C. Zhang. Science, 314 (5806) (2006) 1757—1761

7. К. В. Маремьянин, В. В. Румянцев, А. В. Иконников, Л. С. Бовкун, Е. Г. Чижевский, И. И. Засавицкий, В. И. Гавриленко. ФТП, 50, N 12 (2016) 1697—1700

8. S. V. Morozov, V. V. Rumyantsev, A. M. Kadykov, A. A. Dubinov, K. E. Kudryavtsev, A. V. Antonov, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretskii, V. I. Gavrilenko. Appl. Phys. Lett., 108, N 9 (2016) 092104

9. М. Л. Городецкий. Основы теории оптических микрорезонаторов, Москва, МГУ им. М. В. Ломоносова (2010)

10. K. E. Kudryavtsev, V. V. Rumyantsev, V. Ya. Aleshkin, A. A. Dubinov, V. V. Utochkin, M. A. Fadeev, N. N. Mikhailov, G. Alymov, D. Svintsov, V. I. Gavrilenko, S. V. Morozov. Appl. Phys. Lett., 117 (2020) 083103

11. S. Dvoretsky, N. Mikhailov, Yu. Sidorov, V. Shvets, S. Danilov, B. Wittman, S. Ganichev. J. Electron. Mat., 39, N 7 (2010) 918

12. Z. Kucera. Phys. Status Solidi (a), 100 (1987) 659

13. V. Ya. Aleshkin, A. A. Dubinov, V. V. Rumyantsev, M. A. Fadeev, O. L. Domnina, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, F. Teppe, V. I. Gavrilenko, S. V. Morozov. J. Phys.: Cond. Matter, 30 (2018) 495301

14. J. Chu, A. Sher. Physics and Properties of Narrow Gap Semiconductors, New York, Springer (2008)

Источник

Информация

Автор

Разова А. А. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Уточкин В. В. Институт физики микроструктур Российской АН
Фадеев М. А. Институт физики микроструктур Российской АН
Румянцев В. В. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Дубинов А. А. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Кудрявцев К. Е. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Шенгуров Д. В. Институт физики микроструктур Российской АН
Морозова Е. Е. Институт физики микроструктур Российской АН
Скороходов Е. В. Институт физики микроструктур Российской АН
Михайлов Н. Н. Институт физики полупроводников СО Российской АН
Дворецкий С. А. Институт физики полупроводников СО Российской АН
Гавриленко В. И. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Морозов С. В. Институт физики микроструктур Российской АН; Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Страницы

632-637

Год издания

2022

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии