RT - article
SR - Electronic
T1 - Использование спектроскопических методов для изучения морфологии полимерных трековых мембран
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2022-05-25
DO - 10.47612/0514-7506-2022-89-3-348-353
A1 - Маркова А. И., 
A1 - Григорьева И. А., 
A1 - Иванова А. И., 
A1 - Хижняк С. Д., 
A1 - Ruehl E. , 
A1 - Пахомов П. М., 
YR - 2022
UL - https://www.academjournals.by/publication/15508
AB - Методами УФ-, ИК-спектроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света (КР), а также сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) исследована морфология трековых мембран на основе полиэтилентерефталата и полипропилена с различными диаметрами треков и их поверхностной плотностью. С помощью СЭМ построены кривые распределения числа треков в зависимости от их среднего размера (диаметра). Аналогичные кривые распределения получены с помощью методов УФ- и ИК-спектроскопии. Установлено хорошее согласие между данными независимых методов оптической спектроскопии и СЭМ. Показано, что с ростом поверхностной плотности треков фоновое упругое рассеяние в КР-спектрах возрастает по линейному закону. Эффект в КР-спектрах предложено использовать для оценки поверхностной плотности треков полимерных трековых мембран.