17 Маркова А. И. Григорьева И. А. Иванова А. И. Хижняк С. Д. Ruehl E. Пахомов П. М. полимерные трековые мембраны УФ- ИК- и КР-спектроскопия сканирующая электронная микроскопия диаметр треков поверхностная плотность треков 2022 2022-05-25 10.47612/0514-7506-2022-89-3-348-353 Журнал прикладной спектроскопии Методами УФ-, ИК-спектроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света (КР), а также сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) исследована морфология трековых мембран на основе полиэтилентерефталата и полипропилена с различными диаметрами треков и их поверхностной плотностью. С помощью СЭМ построены кривые распределения числа треков в зависимости от их среднего размера (диаметра). Аналогичные кривые распределения получены с помощью методов УФ- и ИК-спектроскопии. Установлено хорошее согласие между данными независимых методов оптической спектроскопии и СЭМ. Показано, что с ростом поверхностной плотности треков фоновое упругое рассеяние в КР-спектрах возрастает по линейному закону. Эффект в КР-спектрах предложено использовать для оценки поверхностной плотности треков полимерных трековых мембран. https://www.academjournals.by/publication/15508 https://www.academjournals.by/files/15466