Moudir D. , Kamel N. , Mouheb Y. , Sadji A. , Hamiane Y. Микроструктурный анализ стекла, предназначенного для локализации радиоактивных отходов, методами комбинационного рассеяния света и ИК-Фурье-спектроскопии. Журнал прикладной спектроскопии. 2022;89(1):131-137.