Moudir D. , Kamel N. , Mouheb Y. , Sadji A. , Hamiane Y. Микроструктурный анализ стекла, предназначенного для локализации радиоактивных отходов, методами комбинационного рассеяния света и ИК-Фурье-спектроскопии // Журнал прикладной спектроскопии. 2022 Т.89, №1. С.131-137.