<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Ротштейн В. М.</author>
     <author>Турдалиев Т. К.</author>
     <author>Ашуров Х. Б.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Анализ пористого нанокремния на основе спектроскопии комбинационного рассеяния света</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>пористый кремний, нанокремний, электрохимическое травление, наноструктуры, спектроскопия комбинационного рассеяния света, фотовольтаика, спектр фотолюминесценции, спектр комбинационного рассеяния, гранулометрический контроль</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2022</year>
    <pub-dates>
     <date>2022-02-03</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.47612/0514-7506-2022-89-1-51-56</doi>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Представлены технологии получения наноструктурированного кремния, в том числе пористого нанокремния. Описан способ синтеза пористого нанокремния методом электрохимического травления. Приведены основные параметры генерации пористого кремния с заданными характеристиками. Описаны результаты исследований образцов наноструктурированного пористого кремния, проведенных с использованием спектрометра InVia Raman Renishaw, позволяющего регистрировать и идентифицировать как аморфную, так и кристаллическую фазовую составляющую в образцах. По результатам гранулометрических исследований установлена кристаллическая структура образцов. Аппроксимацией спектров комбинационного рассеяния света подтверждено отсутствие аморфного кремния в исследуемых образцах. В спектрах комбинационного рассеяния света образцов наблюдается сдвиг линий в сторону меньших энергий, характерный для наночастиц при уменьшении их размеров. В спектрах фотолюминесценции синтезированных образцов пористого кремния наблюдается устойчивая интенсивная полоса в области 700–900 нм, что подтверждает нанокристаллический характер образцов. Продемонстрирована эффективность и чувствительность спектроскопии комбинационного рассеяния света, позволяющей регистрировать даже незначительные изменения в кристаллической и аморфной фракциях кремниевых структур.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15452</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15411</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
