Метод создания субнайквистовских однопиксельных изображений с использованием базиса адамара

Guo J.; Liu Q. Ch.; Deng H.; Li G. L.; Shang L. P.

Метод создания субнайквистовских однопиксельных изображений с использованием базиса адамара

Guo J. , Liu Q. Ch., Deng H. , Li G. L., Shang L. P.

2023

Предложена однопиксельная терагерцовая (ТГц) система визуализации суперсуб-НайквистаАдамара, в которой ТГц-волны модулируются цифровым микрозеркальным устройством и лазерным драйвером. Пространственное кодирование ТГц-излучения осуществляется с помощью базиса Адамара порядка CC. ТГц-изображения реконструируются из серии последовательностей кодирования измерений интенсивности. Доказано, что при дискретизации суперсуб-Найквиста однопиксельное ТГц-изображение с точностью 87% и отношением сигнал/шум >23 дБ может быть получено с использованием 10% базисных шаблонов Адамара порядка CC. Алгоритм регуляризации полной вариации обладает более высокой устойчивостью к шуму, чем преобразование Адамара, и является хорошим техническим вариантом для однопиксельного ТГц-изображения.

Guo J. , Liu Q. Ch., Deng H. , Li G. L., Shang L. P. Метод создания субнайквистовских однопиксельных изображений с использованием базиса адамара. Журнал прикладной спектроскопии. 2023;90(5):811.

Цитирование

Список литературы

1. P. Hillger, J. Grzyb, R. Jain, U. R. Pfeiffer, IEEE THz Sci. Tech., 9, No. 1, 1–19 (2019).

2. Q. Wang, L. Xie, Y. Ying, Appl. Spectrosc. Rev., 57, No. 3, 249–264 (2021).

3. C. Jansen, S. Wietzke, O. Peters, M. Scheller, N. Vieweg, M. Salhi, N. Krumbholz, C. Joerdens, T. Hochrein, M. Koch, Appl. Optics, 49, No. 19, E48–E57 (2010).

4. S. C. Zhong, Front Mech. Eng., 14, No. 3, 273–281 (2019).

5. M. Danciu, T. Alexa-Stratulat, C. Stefanescu, G. Dodi, B. I. Tamba, C. T. Mihai, G. D. Stanciu, A. Luca, I. A. Spiridon, L. B. Ungureanu, V. Ianole, I. Ciortescu, C. Mihai, G. Stefanescu, I. Chirila, R. Ciobanu, V. L. Drug, Mater., 12, No. 9, 16 (2019).

6. X. Yang, X. Zhao, K. Yang, Y. P. Liu, Y. Liu, W. L. Fu, Y. Luo, Trends Biotechnol., 34, No. 10, 810–824 (2016).

7. J. Dong, A. Locquet, M. Melis, D. S. Citrin, Sci. Rep., 7 (2017).

8. E. Abraham, A. Younus, J. C. Delagnes, P. Mounaix, Appl. Phys. A, 100, No. 3, 585–590 (2010).

9. E. J. Candes, J. Romberg, T. Tao, IEEE Inform. Theory, 52, No. 2, 489–509 (2006).

10. E. J. Candes, T. Tao, IEEE Inform. Theory, 52, No. 12, 5406–5425 (2006).

11. D. L. Donoho, IEEE Inform. Theory, 52, No. 4, 1289–1306 (2006).

12. H. Shapiro, J. I. Jeffrey, Phys. Rev. A, 78, No. 6, 061802 (2008).

13. N. Gopalsami, S. Liao, T. W. Elmer, E. R. Koehl, A. Heifetz, A. C. Raptis, L. Spinoulas, A. K. Katsaggelos, Opt Eng., 51, No. 9, 091614(1–5) (2012).

14. S. Busch, B. Scherger, M. Scheller, M. Koch, Opt. Lett., 37, No. 8, 1391–1393 (2012).

15. M. I. B. Shams, L. Liu, S. Rahman, L. J. Cheng, P. Fay, Z. Jiang, J. Qayyum, H. G. Xing, Electron Lett., 50, No. 11, 801–803 (2014).

16. S. Augustin, J. Hieronymus, P. Jung, H. W. Hübers, J. Infrared Millim., 36, No. 5, 496–512 (2015).

17. R. I. Stantchev, B. Sun, S. M. Hornett, P. A. Hobson, G. M. Gibson, M. J. Padgett, E. Hendry, Sci. Adv., 2, No. 6 (2016).

18. R. I. Stantchev, D. B. Phillips, P. Hobson, S. M. Hornett, M. J. Padgett, E. Hendry, Optica, 4, No. 8, 989–996 (2017).

19. Y. Lu, X.-K. Wang, W.-F. Sun, S.-F. Feng, J.-S. Ye, P. Han, Y. Zhang, IEEE THz Sci. Tech., 10, No. 5, 495–501 (2020).

20. L. Zanotto, R. Piccoli, J. Dong, D. Caraffini, R. Morandotti, L. Razzari, Opt. Express, 28, No. 3, 3795–3802 (2020).

21. T. A. Lu, Z. Qiu, Z. Zhang, J. Zhong, Opt. Laser Eng., 134 (2020).

22. P. G. Vaz, D. Amaral, L. F. Requicha Ferreira, M. Morgado, J. Cardoso, Opt. Express, 28, No. 8, 11666–11681 (2020).

23. M. J. Sun, L. T. Meng, M. P. Edgar, M. J. Padgett, N. Radwell, Sci. Rep., 7, No. 1, 3464 (2017).

24. W. K. Yu, Sensors (Basel), 19, No. 19, 4122 (2019).

25. X. Yu, R. I. Stantchev, F. Yang, E. Pickwell-MacPherson, Sci. Rep., 10, No. 1, 9338 (2020).

26. L. Lopez-Garcia, W. Cruz-Santos, A. Garcia-Arellano, P. Filio-Aguilar, J. A. Cisneros-Martinez, R. Ramos-Garcia, Opt. Express, 30, No. 8, 13714–13732 (2022).

27. M.-F. Li, L. Yan, R. Yang, Y.-X. Liu, Acta Phys. Sin., 68, No. 6, 064202 (2019).

Источник

Информация

Автор

Guo J. Школа информационной инженерии Юго-Западного университета науки и технологий; Колледж ТяньФу Юго-Западного университета финансов и экономики
Liu Q. Ch. Школа информационной инженерии Юго-Западного университета науки и технологий; Институт исследований и инноваций Тяньфу Юго-Западного университета науки и технологий
Deng H. Школа информационной инженерии Юго-Западного университета науки и технологий; Институт исследований и инноваций Тяньфу Юго-Западного университета науки и технологий
Li G. L. Школа информационной инженерии Юго-Западного университета науки и технологий; Институт исследований и инноваций Тяньфу Юго-Западного университета науки и технологий
Shang L. P. Школа информационной инженерии Юго-Западного университета науки и технологий; Институт исследований и инноваций Тяньфу Юго-Западного университета науки и технологий

Страницы

Год издания

2023

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии