17 Somakumar А. K. Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге медь металлическая пленка стеклянная подложка спектроскопическая эллипсометрия 2023 2023-11-25 Журнал прикладной спектроскопии Исследованы оптические характеристики тонкой поглощающей однослойной пленки меди при различных температурах отжига. Спектроскопическая эллипсометрия применена в качестве эффективного инструмента для точной настройки оптических констант тонких пленок, особенно для достижения конкретных значений показателя преломления (n) и коэффициента экстинкции (k). Измерение и анализ термически осажденной на стеклянную подложку тонкой однослойной пленки меди проведены для спектроскопического эллипсометра. https://www.academjournals.by/publication/15415 https://www.academjournals.by/files/15374