<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Курапцова А. А.</author>
     <author>Данилюк А. Л.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Спектрально-зарядовые свойства гетероструктуры диоксид титана/кремний при облучении солнечным светом</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>диоксид титана</keyword>
    <keyword>кремний</keyword>
    <keyword>гетероструктура</keyword>
    <keyword>солнечное излучение</keyword>
    <keyword>зарядовые свойства</keyword>
    <keyword>ловушки</keyword>
    <keyword>моделирование</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2023</year>
    <pub-dates>
     <date>2023-11-23</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>С помощью компьютерного моделирования исследованы спектрально-зарядовые свойства гетероструктуры пленки диоксида титана (TiO2) n-типа проводимости толщиной 100 нм на кремниевой подложке p-типа проводимости в диапазоне 300—1200 нм солнечного излучения. Учтено наличие ловушечных состояний в пленке TiO2, способствующих локализации носителей заряда. Моделирование проводилось с использованием модели Андерсона для полупроводниковых гетеропереходов, решения уравнения Пуассона, уравнений непрерывности для электронов и дырок и уравнений Максвелла для электромагнитных волн в программном пакете Comsol Multyphysics. Рассчитаны распределение скоростей генерации и концентрации носителей заряда в гетероструктуре, распределение плотности заряда и электрического потенциала от длины волны l падающего на пленку TiO2 солнечного излучения, а также от энергии ловушечных состояний Et, которая задавалась внутри запрещенной зоны, считая от дна зоны проводимости. Интегральная плотность солнечного излучения 1 кВт/м2 принималась одинаковой для всех длин волн. Выявлены немонотонные зависимости скорости генерации носителей заряда в TiO2 в области l = 325—375 нм. Установлено, что для относительно мелких ловушек (Et = 0.2—0.3 эВ) в объеме пленки TiO2 формируется положительный заряд с плотностью 1.6 мКл/см3, слабо зависящий от длины волны. С ростом энергии ловушек объемная плотность заряда в пленке TiO2 снижается и меняет знак, достигая –3.4 мКл/см3 при Et = 0.8 эВ и l = 900 нм. Плотность поверхностного заряда на пленке TiO2 отрицательная, ее величина возрастает с ростом энергии ловушек Et и длины волны излучения, достигая –2.8 · 10-4 мкКл/см2 при Et = 0.8 эВ и l = 900 нм. Полученные результаты объясняются взаимосвязью процессов интерференции в TiO2 падающей и отраженной от границы раздела волн, разделением генерированных солнечным светом носителей заряда на этой границе, а также локализацией электронов на поверхностных состояниях TiO2.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15403</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15362</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
