RT - article
SR - Electronic
T1 - Многопараметрическая калибровка состава низколегированных сталей по предобработанным эмиссионным спектрам низкого разрешения с выбором спектральных переменных
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2023-03-23
DO - 10.47612/0514-7506-2023-90-2-174-179
A1 - Бельков М. В., 
A1 - Кацалап К. Ю., 
A1 - Королько Д. А., 
A1 - Ходасевич М. А., 
YR - 2023
UL - https://www.academjournals.by/publication/15300
AB - По эмиссионным спектрам низкого разрешения лазерно-искровой плазмы эталонных образцов низколегированных сталей осуществлена калибровка концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu. На основе предварительной обработки данных в виде нормировки спектров на длине волны эмиссионной линии Fe II 252.0609 нм и вычета базовой линии, а также выбора спектральных переменных оригинальным методом поиска комбинации движущихся окон для метода частичных наименьших квадратов построены многопараметрические калибровочные модели для указанных элементов со следующими характеристиками: для C (в диапазоне концентраций до 0.7 %) среднеквадратичное и остаточное отклонения в проверочной выборке составили 0.04 % и 4.7, Mn (до 1.9 %) 0.02 % и 24.8, Si (до 0.9 %) 0.01 % и 12.9, Cr (до 1 %) 0.01 % и 21.8, Ni (до 0.7 %) 0.007 % и 23.3, Cu (до 0.5 %) 0.006 % и 23.2 соответственно. Модели являются количественными (остаточное отклонение >3) для шести рассматриваемых элементов, включая C.