<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Jayaprada P. </author>
     <author>Rao M. C.</author>
     <author>Madhav B. T. P. </author>
     <author>Pardhasaradhi P. </author>
     <author>Manepalli R. K. N. R. </author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Структурные и фотолюминесцентные свойства жидкокристаллических соединений &lt;i&gt;р&lt;/i&gt;-(&lt;i&gt;п&lt;/i&gt;-гептил)бензойной кислоты с дисперсными наночастицами ZnO</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>бензойная кислота</keyword>
    <keyword>наночастицы ZnO</keyword>
    <keyword>рентгеновская дифракция</keyword>
    <keyword>сканирующая электронная микроскопия</keyword>
    <keyword>УФ-видимая спектроскопия</keyword>
    <keyword>оптическая поляризационная микроскопия</keyword>
    <keyword>дифференциальная сканирующая калориметрия</keyword>
    <keyword>ИК-Фурье-спектроскопия</keyword>
    <keyword>фотолюминесценция</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2024</year>
    <pub-dates>
     <date>2024-08-02</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Исследованы структурные и фотолюминесцентные свойства синтезированных жидкокристаллических (ЖК) соединений п-(н-гептил)бензойной кислоты с гомогенной дисперсией наночастиц (НЧ) ZnO в концентрациях 1–2.5 мас.%. Образцы охарактеризованы с помощью рентгеновской дифракции (XRD), сканирующей электронной микроскопии (SEM), УФ-видимой спектроскопии (UV-Vis), дифференциальной сканирующей калориметрии (DSC), поляризационной оптической микроскопии, ИК-Фурье-спектроскопии (FT-IR) и фотолюминесцентной спектроскопии (PL). Наблюдаемые дифракционные пики хорошо разрешены, что указывает на присутствие НЧ ZnO, размер частиц 60 нм. SEM-исследования выявили равномерную дисперсию и наличие НЧ ZnO в ЖК-образцах. На основе DSC-анализа оценены температуры фазовых превращений и соответствующие значения энтальпии. Спектры FT-IR дают информацию о различных функциональных группах, присутствующих в образцах. В спектрах PL максимум при 663 нм обусловлен наличием точечных дефектов внутри запрещенных вакансий и междоузлий, известных как эмиссия глубоких уровней.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15160</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15119</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
