Мухаммад А. И., Гайдук П. И. Поглощение ИК-излучения в структурах Ti/(Si)/SiO₂/Si₃N₄/n⁺-Si с островковым поверхностным слоем различной горизонтальной геометрии. Журнал прикладной спектроскопии. 2024;91(2):227-233.