Мухаммад А. И., Гайдук П. И. Поглощение ИК-излучения в структурах Ti/(Si)/SiO₂/Si₃N₄/n⁺-Si с островковым поверхностным слоем различной горизонтальной геометрии // Журнал прикладной спектроскопии. 2024 Т.91, №2. С.227-233.