<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Jayaprada P. </author>
     <author>Rao M. C.</author>
     <author>Vasundhara B. </author>
     <author>Rao G. M.</author>
     <author>Mohan N. K.</author>
     <author>Manepalli R. K. N. R. </author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Структурные, оптические и фотолюминесцентные исследования жидкокристаллических соединений р(-п-децилокси)бензойной кислоты с дисперсными наночастицами ZnO</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>10ОБК</keyword>
    <keyword>наночастица ZnO</keyword>
    <keyword>рентгеновская дифракция</keyword>
    <keyword>сканирующая электронная микроскопия</keyword>
    <keyword>поляризационная оптическая микроскопия</keyword>
    <keyword>дифференциальная сканирующая калориметрия</keyword>
    <keyword>фотолюминесценция</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2024</year>
    <pub-dates>
     <date>2024-04-29</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Исследованы структурные, оптические и фотолюминесцентные свойства жидкокристаллических (ЖК) соединений п(-н-децилокси)бензойной кислоты (10ОБК) с 1 мас.% дисперсных наночастиц (НЧ) ZnO. Образцы охарактеризованы методами рентгеновской дифракции (XRD), сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), поляризационной оптической микроскопии (ПOM), дифференциальной сканирующей калориметрии (ДСК), УФ-видимой спектроскопии и фотолюминесценции (ФЛ). По данным рентгеноструктурного анализа, дифракционные пики при 36.2, 42.5, 61.3 и 73.2° хорошо разрешены, что указывает на присутствие НЧ ZnO размером 65 нм. СЭМ-исследования выявили равномерную дисперсию и наличие в образцах НЧ ZnO. С помощью ПОМ при пониженной температуре наблюдались текстурные изображения различных фаз (нематической, смектической)  ЖК-соединений 10ОБК (чистого и с 1 мас.% дисперсных НЧ ZnO). По термограммам ДСК оценены температуры фазовых переходов и соответствующие значения энтальпии. Ширина запрещенной зоны уменьшается для ЖК 10ОБК + 1 мас.% НЧ ZnO и составляет 3.25 эВ по сравнению с 4.25 эВ для чистого ЖК 10ОБК. Исследования ФЛ показали наличие максимума при 616 нм из-за точечных дефектов в запрещенной зоне, таких как вакансии и междоузлия, известных как эмиссия с глубоких уровней.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15105</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15064</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
