Микроструктура и комбинационное рассеяние света пленок CdS, полученных методом химического осаждения

Зарецкая Е. П.; Гременок В. Ф.; Бускис К. П.; Королик О. В.; Пашаян С. Т.; Toкмаджян А. С.; Mусаелян А. С.; Петросян С. Г.

Микроструктура и комбинационное рассеяние света пленок CdS, полученных методом химического осаждения

Зарецкая Е. П., Гременок В. Ф., Бускис К. П., Королик О. В., Пашаян С. Т., Toкмаджян А. С., Mусаелян А. С., Петросян С. Г.

2024

Исследованы кристаллографическая структура, элементный состав и морфология поверхности тонких пленок сульфида кадмия (CdS), полученных методом химического осаждения из водного раствора, содержащего NH4OH (25 %), 0.0096M CdSO4 и 0.8M CS(NH2)2, на стеклянные подложки, при Т = 62 ± 1 o С. Характеристики пленок получены на основе сканирующей электронной микроскопии, исследований фазового и элементного состава, а также спектров комбинационного рассеяния света. Показано, что выбранный состав раствора и режимы осаждения позволяют получать пленки CdS стехиометрического состава, сформированные нанокристаллами гексагональной модификации, пригодными для применения в фотопреобразователях солнечной энергии.

Зарецкая Е. П., Гременок В. Ф., Бускис К. П., Королик О. В., Пашаян С. Т., Toкмаджян А. С., Mусаелян А. С., Петросян С. Г. Микроструктура и комбинационное рассеяние света пленок CdS, полученных методом химического осаждения. Журнал прикладной спектроскопии. 2024;91(1):32-38.

Цитирование

Список литературы

1. P. K. Nair, J. Campos, M. T. S. Nair. Semicond. Sci. Technol., 3 (1998) 134-145

2. J. B. Seon, S. Lee, J. M. Kim, H. D. Jeong. Chem. Mater., 21, N 4 (2009) 604-611

3. Y. Wang, S. Ramanathan, Q. Fan, Q. Yun, H. Morkoc, S. Bandyopadhyay. J. Nanosci. Nanotechnol., 6 (2006) 2077-2080

4. D. I. Klevin, R. Roth, A. K. I. Lim, A. P. Alivisators. Nature, 389 (1997) 699-701

5. J. Zhang, D. Li, R. Chen, Q. Xiong. Nature, 493 (2013) 504-508

6. A. A. Yadav, E. U. Masumdar. J. Alloys Compd., 509 (2011) 5394-5399

7. X. Mathew, J. P. Enriquez, A. Romeo, A. N. Tiwari. Sol. Energy, 77 (2004) 831-838

8. D. Wang, Z. Hou, Z. Bai. J. Mater. Res., 26 (2011) 697-705

9. J. Sterner, J. Malmstrom, L. Stolt, J. Malmström, L. Stolt. Prog. Photovolt. Res. Appl., 13 (2005) 179-193

10. A. Klein. J. Phys. Cond. Matter, 27 (2015) 134201(1-24)

11. H. Moualkia, S. Hariech, M. S. Aida, N. Attaf, E. L. Laifa. J. Phys. D: Appl. Phys., 42, N 13 (2009) 135404 (7)

12. P. Jackson, D. Hariskos, R. Wuerz, O. Kiowski, A. Bauer, T.M. Friedlmeier, M. Powalla. Phys. Status Sol. Rapid Res. Lett., 9 (2015) 28-31

13. K. Shirai, Y. Moriguchi, M. Ichimura, A. Usami, M. Saji. Jpn. J. Appl. Phys., 35 (1996) 2057-2060

14. B. E. Warren. X-ray Diffraction, Dover, New York (1990) 63-66

15. G. K. Williamson, R. E. Smallman. Philos. Mag., 1 (1956) 34-36

16. H.-R. Wenk, S. Matthies, L. Lutterotti. Mater. Sci. Forum, 157–162 (1994) 473-480

17. L. Lutterotti, S. Matthies, H.-R. Wenk, A. J. Schultz, J. Richardson. J. Appl. Phys., 81, N 2 (1997) 594-600

18. A. Ashok, G. Regmi, A. Romero-Núñez, M. Solis-López, S. Velumani, H. Castaneda. J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 31, N 10 (2020) 7499-7518

19. D. L. Andrews, A. A. Demidov. An Introduction to Laser Spectroscopy, Springer Science+Business Media, LLC, Springer, Boston, MA (2002) 77-104

20. B. Tell, T. C. Damen, S. P. S. Porto. Phys. Rev., 144, N 2 (1966) 771-774

21. M. A. Nusimovici, M. Balkanski, J. L. Birman. Phys. Rev. B, 1 (1970) 595-603

22. V. Dzhagan, A. G. Milekhin, M. Ya. Valakh, S. Pedetti, M. Tessier, B. Dubertrete, D. R. T. Zahna. Nanoscale, 8 (2016) 17204-17212

23. R. K. K. Nanda, S. N. Sarangi, S. N. Sahu, S. K. Deb, S. N. Behera. Physica B, 262 (1999) 31-39

24. О. Zelaya-Angel, F. de L. Castillo-Alvarado, J. Avendailo-Lopez, A. Escamilla-Esquivel, G. Contreras-Puente, R. Lozada-Morales, G. Torres-Delgadod. Solid State Commun., 104, N 3 (1997) 161-166

25. V. M. Dzhagan, M. Y. Valakh, C. Himcinschi, A. G. Milekhin, D. Solonenko, N. A. Yeryukov, O. E. Raevskaya, O. L. Stroyuk, D. R. T. Zahn. J. Phys. Chem. C, 118, N 33 (2014) 19492-19497

26. T. T. K. Chi, G. Gouadec, Ph. Colomban, G. Wang, L. Mazerolles, N. Q. Liem. J. Raman Spectrosc., 42 (2011) 1007-1015

27. Muhammad Farooq Saleem, Hua Zhang, Yi Deng, Deliang Wang. J. Raman Spectrosc., 48, N 2 (2016) 224-229

28. R. Keshav, A. Rao, M. G. Mahesha. Opt. Quant. Electron., 50 (2018) 186(1-14)

29. V. F. Gremenok, K. P. Buskis, K. D. Kunin, M. S. Tivanov, L. S. Lyashenko, S. T. Pashayan, A. S. Musayelyan, A. S. Tokmajyan. Proc. X Int. Sci. Conf. “Actual Problems of Solids State Physics”, 22-26 May 2023, Minsk, Belarus, publ. A. Varaksin (2023) 106-109

Источник

Информация

Автор

Зарецкая Е. П. Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Гременок В. Ф. Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Бускис К. П. Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Королик О. В. Белорусский государственный университет
Пашаян С. Т. Институт физических исследований НАН Армении; Институт радиофизики и электроники НАН Армении
Toкмаджян А. С. Институт радиофизики и электроники НАН Армении
Mусаелян А. С. Институт радиофизики и электроники НАН Армении
Петросян С. Г. Институт радиофизики и электроники НАН Армении

Страницы

32-38

Год издания

2024

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии