<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Босак Н. А.</author>
     <author>Бушинский М. В.</author>
     <author>Чобот А. Н.</author>
     <author>Баран Л. В.</author>
     <author>Малютина-Бронская В. В.</author>
     <author>Таратын И. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Морфология поверхности, оптические и электрофизические свойства пьезокерамических пленок, полученных методом лазерного осаждения в вакууме</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>высокочастотное лазерное воздействие</keyword>
    <keyword>структура тонких пленок</keyword>
    <keyword>спектры пропускания и отражения</keyword>
    <keyword>электрофизические характеристики</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2025</year>
    <pub-dates>
     <date>2025-02-07</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Журнал прикладной спектроскопии</journal>
   <abstract>Методом высокочастотного импульсно-периодического (f ~ 10—12 кГц) воздействия лазерного излучения с длиной волны 1.064 мкм и плотностью мощности q = 33 МВт/см2 на пьезокерамику ЦТС-19 при давлении в вакуумной камере p = 2.2 * 10–2 мм рт. ст. получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой и стеклянной подложках. С помощью атомно-силовой микроскопии изучена морфология тонких пьезокермических пленок. Исследованы спектры пропускания пленок в видимой, ближней и средней ИК-областях. Проведен анализ электрофизических свойств структуры ЦТС-19/Si на кремниевой подложке. </abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/15051</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/15013</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
