<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Ильющенко А. Ф.</author>
     <author>Андреев М. А.</author>
     <author>Маркова Л. В.</author>
     <author>Лисовская Ю. О.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ОЦЕНКИ ФОРМИРОВАНИЯ ИОННО-ЛУЧЕВЫХ МНОГОСЛОЙНЫХ НАНО- СТРУКТУРНЫХ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ ХРОМА</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>многослойное наноструктурное покрытие</keyword>
    <keyword>ионно-лучевое покрытие</keyword>
    <keyword>механизм Странского – Крастанова</keyword>
    <keyword>когерентный островок</keyword>
    <keyword>метод сканирующей просвечивающей электронной микроскопии</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2017</year>
    <pub-dates>
     <date>2017-08-08</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук</journal>
   <abstract>Целью данной работы является изучение механизма формирования монослоя в многослойном ионно-лучевом наноструктурном покрытии методом просвечивающей электронной микроскопии, а также разработка модели формирования и роста монослоя при ионно-лучевом распылении мишени с ионным ассистированием подложки. Для исследования механизма формирования и роста монослоя в покрытии была разработана методика препарирования образцов для их последующего изучения с использованием электронного микроскопа Tescan MIRA (Чехия), позволяющего получить изображения поверхности исследуемого объекта с высоким разрешением, особенно при низких ускоряющих напряжениях. Для исследования тонких пленок метод просвечивающей электронной микроскопии используется гораздо чаще, чем сканирующей, поэтому разработана приставка, позволяющая получать изображения в проходящих электронах – TE-детектор для исследования методом сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM – Scanning Transmission Electron Microscopy). При изучении монослоев методом просвечивающей электронной микроскопии с использованием TE-детектора предложен механизм формирования монослоя в многослойном ионно-лучевом наноструктурном покрытии, состоящий из следующих этапов: адсорбция частиц хрома на поверхности подложки; поверхностная диффузия к ступени винтовой дислокации; 2D-рост монослоя хрома (формирование 2D-террас) из 2D-островков; 2D→3D-переход – переход в режим роста трехмерных островков (3D-рост) по механизму Странского – Крастанова. Разработана модель формирования и роста монослоя при ионно-лучевом распылении мишени с ионным ассистированием подложки. </abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/13552</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/13518</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
