RT - article
SR - Electronic
T1 - Моделирование пробегов и потерь энергии высокоэнергетических ионов в однослойных и многослойных материалах
JF - Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук
SP - 2020-04-06
DO - 10.29235/1561-8358-2020-65-1-25-34
A1 - Грабчиков С. С., 
A1 - Грабчикова Е. А., 
A1 - Васин Д. С., 
A1 - Тишкевич Д. И., 
A1 - Ластовский С. Б., 
A1 - Якушевич А. С., 
A1 - Богатырев Ю. В., 
A1 - Калагин И. В., 
A1 - Митрофанов С. В., 
YR - 2020
UL - https://www.academjournals.by/publication/13383
AB - С помощью программного комплекса SRIM рассчитаны линейные и массовые пробеги протонов и ионов аргона в экранах из алюминия, оксида алюминия, висмута и композита W77,7Cu22,3. Показано, что эффективность защиты от высокоэнергетических ионов материалами с большими значениями заряда ядер атомов (Z) выше с позиции линейных пробегов частиц и ниже с позиции массовых пробегов, чем материалами с низкими значениями Z. Определена зависимость пороговой энергии от Z высокоэнергетических ионов для экранов из алюминия, висмута и композита W77,7Cu22,3. Проведены расчеты спектров потерь на ионизацию при прохождении протонов с энергией 20 МэВ и ионов криптона с энергией 7,75 ГэВ через многослойные структуры Bi/Al/Al2O3 и Al/Al2O3/Bi. Расчеты показали, что торможение высокоэнергетических частиц в случае, когда первый слой содержит тяжелый элемент, выше, чем в случае, когда первый слой содержит легкий элемент. Изучено влияние последовательности в расположении и толщины слоев в многослойных структурах системы Bi/Al/Al2O3 на эффективность защиты от высокоэнергетических ионов. Показано, что характер зависимостей R(E) и потерь энергии ионов определяется очередностью расположения отдельных слоев, что связано с различием преобразования спектров материалом первого слоя. Рассмотренные экраны радиационной защиты могут быть использованы в элементах и аппаратуре ракетно-космической техники, могут обеспечить требования по устойчивости к воздействию различных видов ионизирующих излучений (электронное, протонное, гамма-излучение, тяжелые заряженные частицы и др.).